请解释什么是暗电流、本底电流、和阳极反向电流，以及它们各自出现的原因，并讨论它们各自会怎样影响“零电流法”对截止电压U0的测量结果。

### 回答1：
暗电流是指在半导体器件中没有外部光照射的情况下通过器件的电流，这种电流是由于材料的缺陷、杂质、热激发电子等非光电效应引起的。暗电流常常在较小的电压下就开始出现，且随着温度的升高而增加。由于暗电流的存在，使得器件的静态特性发生变化，影响器件的工作性能。

本底电流是指在外部光源光照射下，除了光生电流之外，还存在的一部分电流。本底电流主要是由于光源的背景辐射引起的，因此当光源的亮度增加时，本底电流也会随之增加。

阳极反向电流是指在半导体器件的反向偏置下，由于空间电荷区内存在少量的载流子，导致少量的反向电流。阳极反向电流通常很小，但是对于一些高灵敏度的器件而言，阳极反向电流也会对器件的工作性能产生影响。

在测量截止电压U0时，采用的是零电流法。由于暗电流、本底电流和阳极反向电流的存在，会导致在实际测量过程中出现偏差。特别是在低电压下，这些电流很容易就超过了光生电流，因此会导致测量结果不准确。为了减小这些电流的影响，可以采用一些措施，如降低温度、增加器件的灵敏度等，以提高测量的精度和准确性。

### 回答2：
暗电流是指在电子器件或电路中，没有外加电压或驱动作用下产生的微弱电流现象。暗电流通常是由于材料的内在特性导致，如半导体材料的载流子漂移、电子激发与复合引起的电流。

本底电流是指在测量过程中，仪器本身所引入的微弱电流。本底电流通常来自于仪器中的杂散电流、温度引起的热电子效应或光电效应等。

阳极反向电流是指在某些器件中，当阳极电压反向施加时，由于杂质、缺陷或伴随电子效应，会产生的反向漏电流。

这些微弱电流的产生原因是多方面的，包括材料的特性、电子束的漂移、热电效应等。这些电流的存在会对“零电流法”对截止电压U0的测量结果产生不同程度的影响。

在测量截止电压时，暗电流会对测量结果产生干扰。暗电流的存在会导致实际测得的电流值较大，从而影响到测量到的截止电压值。

本底电流的存在也会对测量结果产生影响。由于仪器本身产生的微弱电流，会使测量结果偏离实际值。

阳极反向电流的存在会更加显著地影响“零电流法”的测量结果。当阳极电压反向施加时，阳极反向电流会导致实际测得的电流值较大，从而使测量到的截止电压值偏向反向电流的方向。

因此，在使用“零电流法”测量截止电压时，需要尽量减小暗电流、本底电流和阳极反向电流的影响。这可以通过选择合适的材料、优化仪器设计、采取合理的抑制措施等方法来实现。