写一个测试数据总线位宽16bit,地址位宽18bit的EMIF接口的testbench测试程序
时间: 2024-05-05 09:21:49 浏览: 134
基于EMIF接口的数据采集系统的设计
以下是一个简单的测试数据总线位宽16bit,地址位宽18bit的EMIF接口的testbench测试程序的示例代码:
```
`timescale 1ns/1ns
module testbench;
// 定义时钟和复位信号
reg clk;
reg reset;
// 定义测试数据信号
reg [15:0] test_data;
// 定义地址信号
reg [17:0] address;
// 定义EMIF接口模块实例
emif_interface emif_inst(.clk(clk), .reset(reset),
.data(test_data), .address(address));
// 初始化时钟和复位信号
initial begin
clk = 0;
reset = 1;
#10 reset = 0;
end
// 时钟信号产生
always #5 clk = ~clk;
// 测试数据生成
initial begin
test_data = 16'h0000;
address = 18'h00000;
#20 test_data = 16'h1234;
address = 18'h00001;
#20 test_data = 16'h5678;
address = 18'h00002;
#20 test_data = 16'h9abc;
address = 18'h00003;
#20 $finish;
end
endmodule
// 定义EMIF接口模块
module emif_interface(
input clk,
input reset,
inout [15:0] data,
output reg [17:0] address
);
// 定义内部寄存器
reg [15:0] mem[0:262143];
// 数据读取
assign data = mem[address];
// 数据写入
always @(posedge clk) begin
if (!reset) begin
mem[address] <= 16'h0000;
end else begin
mem[address] <= data;
end
end
endmodule
```
该测试程序使用了Verilog语言,实例化了一个EMIF接口模块,并在initial块中生成了一些测试数据。测试数据包括四个16位的数据值,对应四个不同的地址。测试程序通过时钟信号、数据信号和地址信号,将测试数据写入内部寄存器,并从内部寄存器中读取数据,并将其赋值给数据信号输出。最后,该测试程序通过$finish语句退出。
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