在系统设计中，如何评估和提高电子设备的可靠性？请结合实例详细说明。

可靠性是衡量电子设备在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能能力的度量。为了深入理解这一概念并掌握提高可靠性的方法，建议您参考《可靠性试验及计算公式资料》。该资料提供了系统性的理论基础和实用的计算公式，有助于您在实际工作中进行应用。

参考资源链接：[可靠性试验及计算公式资料](https://wenku.csdn.net/doc/4puvween08?spm=1055.2569.3001.10343)

要评估电子设备的可靠性，通常需要进行故障率分析、MTBF（平均无故障时间）计算、应力分析和寿命测试等。例如，可以使用故障树分析（FTA）来识别可能的故障模式，并通过FMEA（故障模式及影响分析）来评估潜在的故障对系统的影响。这些方法能够帮助工程师预测和避免故障，从而提升产品的整体可靠性。
在设计阶段，可以采用冗余设计、降额使用、散热优化、电子元件的筛选和老化测试等技术手段来提高设备的可靠性。具体到计算层面，可以通过应力-强度干涉模型来评估不同应力条件下的可靠性水平，或使用Weibull分布等统计模型来预测电子设备的故障概率。
需要注意的是，可靠性测试是一个迭代过程，需要根据测试结果不断调整设计方案。在实践中，应遵循相关的国际标准如IEC、MIL等，使用标准的测试方法和计算公式来确保结果的准确性和可比性。
在您深入研究可靠性设计和评估的基础上，若希望进一步完善知识体系，建议继续深入阅读《可靠性试验及计算公式资料》中的高级章节，这些内容将帮助您掌握更复杂情况下的可靠性分析和提升策略。

参考资源链接：[可靠性试验及计算公式资料](https://wenku.csdn.net/doc/4puvween08?spm=1055.2569.3001.10343)