如何设计一个由74LS系列的与非门和异或门组成的简单数字电路，并测试其逻辑功能和传输延迟时间？

门电路是数字电子技术的基础组成，而74LS系列集成电路提供了丰富的逻辑功能。要构建一个简单的数字电路，你可以选择与非门和异或门来实现特定的逻辑功能。例如，使用74LS00与非门IC来构建与门和或门，以及使用74LS86异或门IC来实现逻辑异或功能。

参考资源链接：[数字电子技术实验：门电路逻辑功能测试与分析](https://wenku.csdn.net/doc/jd1es3rxft?spm=1055.2569.3001.10343)

具体步骤如下：

1. **设计逻辑电路图**：首先确定你需要实现的逻辑功能，并根据与非门和异或门的逻辑表达式设计电路图。例如，要构建一个简单的与门，你可以将74LS00的两个输入端连接至输入信号，并将输出端连接至示波器。

2. **连接74LS系列IC**：在面包板上按照设计的电路图连接IC的引脚。使用跳线连接电源和地线，并确保电路的正确供电。

3. **使用示波器测试**：利用数字电路学习机或直接使用74LS系列IC，通过示波器观察输入和输出波形。示波器可以显示信号的时序，帮助你测量传输延迟时间（tpd）。

4. **分析逻辑功能**：记录不同输入组合下的输出状态，绘制真值表。通过真值表验证电路的逻辑功能是否符合预期。

5. **测量传输延迟时间**：在输入端加入已知频率的脉冲信号，使用示波器的双踪功能同时观察输入和输出信号，并计算两者之间的时间差。多次测量后取平均值，得到74LS系列IC的传输延迟时间。

6. **实验总结**：通过以上步骤，你可以构建一个简单的数字电路，并通过实验验证其逻辑功能和传输性能。这不仅加深了对74LS系列IC的理解，还提升了你使用示波器和电路分析的能力。

为了深入理解门电路的逻辑功能和传输特性，以及如何进行实际测试和分析，建议查阅《数字电子技术实验：门电路逻辑功能测试与分析》。这本书为学习数字电路技术提供了实验指导和理论支持，帮助你更好地掌握门电路的使用和数字电路的设计原理。

参考资源链接：[数字电子技术实验：门电路逻辑功能测试与分析](https://wenku.csdn.net/doc/jd1es3rxft?spm=1055.2569.3001.10343)