stm32ADC多路循环采样

在STM32上进行多路ADC采样时，可以使用循环扫描模式。循环扫描模式允许我们一次性采样多个通道，每个通道的采样结果都会被存储在相应的寄存器中。

以下是一个简单的示例代码，实现了ADC1、ADC2、ADC3三个通道的循环扫描采样：

// 定义通道数组
uint32_t channels[] = {ADC_CHANNEL_0, ADC_CHANNEL_1, ADC_CHANNEL_2};

// 初始化ADC
HAL_ADC_Init(&hadc1);

// 配置ADC采样模式
ADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0};
sConfig.Rank = ADC_RANK_CHANNEL_NUMBER;
sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_3CYCLES;
sConfig.SingleDiff = ADC_SINGLE_ENDED;
sConfig.OffsetNumber = ADC_OFFSET_NONE;
sConfig.Offset = 0;
HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig);

// 配置循环扫描模式
hadc1.Init.ScanConvMode = ENABLE;
hadc1.Init.ContinuousConvMode = ENABLE;
hadc1.Init.NbrOfConversion = 3;
hadc1.Init.DiscontinuousConvMode = DISABLE;
hadc1.Init.ExternalTrigConvEdge = ADC_EXTERNALTRIGCONVEDGE_NONE;
hadc1.Init.ExternalTrigConv = ADC_SOFTWARE_START;
HAL_ADC_Init(&hadc1);

// 启动ADC
HAL_ADC_Start(&hadc1);

// 循环采样
for (;;) {
    // 等待采样完成
    HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1, 100);

    // 读取采样结果
    uint16_t result1 = HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
    uint16_t result2 = HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
    uint16_t result3 = HAL_ADC_GetValue(&hadc1);

    // 处理采样结果
    // ...

    // 启动下一轮采样
    HAL_ADC_Start(&hadc1);
}

在上面的代码中，我们首先定义了一个通道数组 `channels`，其中包含了需要采样的三个通道。然后我们通过 `HAL_ADC_Init` 函数初始化了ADC，并设置了采样模式。接着，我们将 `hadc1.Init.ScanConvMode` 设置为 `ENABLE`，表示启用循环扫描模式，并将 `hadc1.Init.NbrOfConversion` 设置为 3，表示采样三个通道。最后，我们通过调用 `HAL_ADC_Start` 函数启动ADC。

在循环中，我们首先调用 `HAL_ADC_PollForConversion` 函数等待采样完成，然后通过 `HAL_ADC_GetValue` 函数读取每个通道的采样结果，最后对采样结果进行处理。最后，我们再次调用 `HAL_ADC_Start` 函数启动下一轮采样。