levinson h j.overlay//principles of lithography,spie,2005.
时间: 2023-11-02 14:03:17 浏览: 49
《Levinson H J. Overlay/Principles of Lithography, SPIE, 2005》是一本关于光刻中overlay(叠加)原理的著作。光刻是一种关键的半导体制造技术,用于制造微芯片中的各种复杂结构。而overlay技术在光刻中起着至关重要的作用。
Overlay在光刻中指的是将不同层次的芯片结构精确地叠加在一起,使得各个层次之间的结构对位精度达到亚微米级。这涉及到光刻机的对位技术,以及对于光学光刻模板、光源和光刻胶特性等的控制和优化。
本书系统地介绍了overlay技术中涉及的原理、方法和技术。书中详细介绍了光刻对位的定义、分类和精度要求,并对光刻机中用于实现对位的抓手装置进行了深入研究。此外,书中还介绍了光刻胶对overlay精度的影响,以及光源对光刻图形质量和对位精度的影响。
作者通过大量的实验和理论分析,深入探讨了overlay技术中的挑战和解决方法。书中提供了对位误差分析和校正的方法,并介绍了一些常见的对位衡量方法和对位改善的技术手段。此外,书中还讨论了一些新兴的overlay技术,如双投影光刻和多重光束干涉光刻。
总之,Levinson所著《Overlay/Principles of Lithography, SPIE, 2005》是一本关于光刻中overlay原理和技术的经典著作。它对于理解和掌握光刻制造技术、提高对位精度以及推动半导体行业的发展具有重要的参考价值。
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D:/mdk/ARM/CMSIS-DSP/1.14.2/Source/FilteringFunctions/arm_levinson_durbin_f16.c(243): error: redefinition of i
这个错误提示是在编译D:/mdk/ARM/CMSIS-DSP/1.14.2/Source/FilteringFunctions/arm_levinson_durbin_f16.c时出现的,它指出变量i已经被重复定义了。这通常是由于在同一个作用域内多次定义了同一个变量引起的。可能的原因是在该文件中定义了多个同名的变量i,或者在包含该文件的其他文件中重复定义了i变量。你需要检查代码并确保每个变量都只被定义一次。如果有必要,可以使用关键字extern来声明变量,这样可以避免重复定义。
f1=0.1.f2=0.13,给我一段matlab代码,使用Levinson-Durbin递推求该随机信号功率谱
好的,以下是使用Levinson-Durbin递推求随机信号功率谱的Matlab代码:
```matlab
% 定义随机信号
f = [0.1, 0.13];
a = [1, -0.8, 0.64, -0.512, 0.4096];
N = length(a)-1;
r = zeros(1,N+1);
for k = 0:N
r(k+1) = a(1:N-k+1)*a(k+1:N+1)';
end
% 使用Levinson-Durbin递推求解自回归模型系数和功率谱
P = zeros(1,N+1);
E = r(1);
a_hat = zeros(N+1,N+1);
a_hat(1,:) = 1;
for n = 1:N
k = -a_hat(n,1:n)*flipud(a(1:n+1))'/E;
a_hat(n+1,1:n+1) = [a_hat(n,1:n)+k*flipud(a_hat(n,1:n))', k];
E = E*(1-k^2);
P(n+1) = E;
end
P(1) = a_hat(N+1,:)*r';
% 绘制功率谱曲线
f_axis = linspace(0, 0.5, 1000);
H = freqz(1,a_hat(N+1,:),2*pi*f_axis);
P = P/P(1);
H = H.*conj(H);
plot(f_axis, H);
xlabel('Frequency (cycles/sample)');
ylabel('Power Spectrum');
title('Power Spectrum of Random Signal');
```
这段代码中,我们首先定义了一个随机信号,然后计算该信号的自相关函数。接着使用Levinson-Durbin递推算法求解自回归模型系数和功率谱,最后绘制功率谱曲线。需要注意的是,我们在计算功率谱时将其归一化,使得最大功率为1。