keil电弧故障检测算法代码

电弧故障检测算法是一种常见的故障检测方法，可以用于检测电气设备中的电弧故障。以下是一个简单的基于keil的电弧故障检测算法代码示例：

#include <stdio.h>
#include <math.h>

#define SAMPLES 100
#define THRESHOLD 50

int main() {
    int samples[SAMPLES] = {0}; // 存储采样数据的数组
    int i, sum = 0, avg = 0; // sum 为数据总和，avg 为平均值
    int maxDiff = 0, diff = 0; // diff 为两个采样点之间的差值，maxDiff 为最大差值
    int count = 0; // 记录超过阈值的采样点个数

    // 采样数据
    for (i = 0; i < SAMPLES; i++) {
        samples[i] = ADC_Read(); // 读取 ADC 采样值
        sum += samples[i];
    }

    // 计算平均值
    avg = sum / SAMPLES;

    // 检查是否存在超过阈值的采样点
    for (i = 0; i < SAMPLES - 1; i++) {
        diff = abs(samples[i+1] - samples[i]); // 计算两个采样点之间的差值
        if (diff > maxDiff) {
            maxDiff = diff;
        }
        if (diff > THRESHOLD) {
            count++;
        }
    }

    // 如果存在超过阈值的采样点，则认为存在电弧故障
    if (count > 0) {
        printf("Arc fault detected!\n");
    } else {
        printf("No arc fault detected.\n");
    }

    return 0;
}

在这个示例代码中，我们定义了一个长度为100的数组samples来存储采样数据，然后使用ADC_Read()函数从ADC模块中读取采样值。接下来，我们计算了所有采样点的平均值，然后检查了每个采样点之间的差值是否超过了阈值，如果存在超过阈值的采样点，则认为存在电弧故障。