在进行LTE终端射频性能测试时，如何运用CMW500综合测试仪针对发射机的EVM和占用带宽进行精确测量，并提供详细的测试步骤和示例？

为了精确地测量LTE终端发射机的误差矢量幅度(EVM)和占用带宽，使用R&S CMW500综测仪是测试工程师的最佳选择。在《使用CMW500综测仪进行LTE终端射频性能3GPP测试》一书中，作者详细介绍了这两个关键参数的测试流程和要求。EVM是衡量调制质量的参数，过高可能会导致数据错误，而占用带宽则关系到信号实际占用的频谱资源，对频谱效率有直接影响。

参考资源链接：[使用CMW500综测仪进行LTE终端射频性能3GPP测试](https://wenku.csdn.net/doc/7rs5d4wxhf?spm=1055.2569.3001.10343)

在进行EVM测试时，首先需要设置CMW500至正确的测试模式，选择合适的参考信号和信号带宽。然后配置测试信号，包括信号功率、调制类型和编码方式等。在测试开始之前，确认测试参数已按照3GPP TS36.521-1规范设置正确。接着启动测试，CMW500将自动计算EVM值，并与预设的合格标准进行比较。测试完毕后，记录测试数据，并分析EVM结果是否符合规范。

至于占用带宽的测试，首先需要设置CMW500产生一个已知的参考信号，然后配置信号的传输带宽。在测试过程中，CMW500会测量并显示信号在频谱上的实际占用宽度，并与理论值进行对比。测试结果将直观显示信号是否超出预定的频带宽度，以及是否满足频谱分配的要求。

以上步骤中，可以利用CMW500综测仪的软件界面，进行参数的输入和配置，并通过其强大的硬件性能保证测量的准确性。通过这些步骤，测试工程师能够有效评估LTE终端发射机的性能，确保其符合3GPP标准，并在实际网络环境中可靠工作。

参考资源链接：[使用CMW500综测仪进行LTE终端射频性能3GPP测试](https://wenku.csdn.net/doc/7rs5d4wxhf?spm=1055.2569.3001.10343)