晶体的双折射对TE模式和TM模式的影响

晶体的双折射对TE（Transverse Electric）模式和TM（Transverse Magnetic）模式的影响是不同的。

对于TE模式，电场垂直于晶体的主光轴方向，而磁场则在晶体平面内。在双折射晶体中，TE模式的传播速度在不同方向上是不同的，因此光线会发生偏折。这个效应被称为主轴偏振。

对于TM模式，磁场垂直于晶体的主光轴方向，而电场则在晶体平面内。在双折射晶体中，TM模式的传播速度也会因不同方向而有所不同，导致光线发生偏折。然而，与TE模式不同的是，TM模式的偏折方向与TE模式相反。

因此，晶体的双折射现象会对TE模式和TM模式产生不同的影响，导致它们在晶体中传播时发生偏折。