TEST_FLA_EN介绍

`TEST_FLA_EN`是在特定测试环境下启用的一组功能，主要涉及闪存逻辑层（FLA）相关的调试和测试机制。在代码中，它启用了若干与错误注入（error injection）、性能分析及调试输出相关的能力。

### 主要特性
1. **错误注入管理**：允许设置读写操作或擦除过程中的故障模拟限制与阈值。
- 例如，可以设定生成读取失败的次数上限为1千万次，并在其达到999万次时触发。
2. **调试输出**：提供详细寄存器状态打印以便于追踪调试。
3. **初始化配置**：对错误队列（Error Queue, EQ）等结构进行默认值设置以确保一致性。
4. **任务状态机处理**：定义了不同任务状态之间的转换逻辑，如处理命令集合、解析闪存队列（Flash Queue, FQ）和返回介质传输包（Medium Transfer Package, MTP）等。

### 关键函数说明
- `FLA_Test_Error_Printf()`：用于调试输出LDPC解码结果及其他关键寄存器的状态。
- `FlaSetEQ_DefaultValue()`：为指定错误队列设置初始值。
- `InitFPU()`：初始化各种类型的数据处理单元数组（Flash Processing Unit, FPU），包括读取、写入、擦除等。
- `FWInitVariable_cpu1()`：初始化双核环境下的变量。

通过上述特性，在开发过程中能够更方便地识别并解决问题，特别是在模拟真实世界中的故障场景方面非常有用。