MFC "m_BurnInInfo.TestCtrl1 = m_TestCtrl1" 结构体赋值给结构体里面的结构体 段错误
时间: 2024-06-19 17:04:31 浏览: 59
在MFC中,结构体是可以嵌套使用的。m_BurnInInfo是一个结构体,TestCtrl1也是一个结构体。这个错误可能是由于未正确分配内存导致的。如果您在给结构体赋值时出现了段错误,可能是由于尝试访问未分配内存的指针或数组导致的。请确保在使用指针或数组之前,已经正确分配了内存。
您可以检查以下几个方面,看是否存在问题:
1. 确保m_BurnInInfo已经被正确地初始化了。
2. 确保m_TestCtrl1已经被正确地初始化了。
3. 确保m_BurnInInfo中的TestCtrl1已经被正确地分配内存。
4. 确保TestCtrl1中的成员变量已经被正确地初始化了。
如果您还有其他问题,欢迎继续提问。谢谢!
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void read_test(void) { test_data.pos=M24CxxReadByte(512); test_data.rx_state=M24CxxReadByte(513); test_data.data_orgB=M24CxxReadWord(514); test_data.data_xzhB=M24CxxReadWord(516); test_data.zeroB=M24CxxReadWord(518); test_data.data_orgS=M24CxxReadWord(520); test_data.data_xzhS=M24CxxReadWord(522); test_data.zeroS=M24CxxReadWord(524); test_data.warnd=M24CxxReadWord(526); }
这段代码也是嵌入式系统中的函数,用于从EEPROM中读取测试数据。函数中同样包含了一个test_data结构体,它包含了之前测试保存到EEPROM中的各个数据。函数中使用了M24CxxReadByte和M24CxxReadWord函数从EEPROM中读取数据,并将数据存储到test_data结构体中。这个函数通常会在系统启动时或者从休眠状态中恢复时被调用,以便恢复之前保存的测试数据。
TIM_OCInitStructure.TIM_OCPolarity = TIM_OCPolarity_High;TIM_OCInitStructure.TIM_OCPolarity = TIM_OCPolarity_Low£»µÄÇø±ð
这段代码中有一个错误,TIM_OCInitStructure.TIM_OCPolarity被赋值了两次,第二次赋值会覆盖第一次赋的值,导致第一次的赋值无效。正确的写法应该是:
TIM_OCInitStructure.TIM_OCPolarity = TIM_OCPolarity_High; // 设置输出比较极性为高电平
TIM_OCInitStructure.TIM_OCNPolarity = TIM_OCNPolarity_Low; // 设置互补输出比较极性为低电平
其中,TIM_OCInitStructure是一个结构体,TIM_OCPolarity和TIM_OCNPolarity都是结构体中的成员,用于设置输出比较通道和互补输出比较通道的极性。TIM_OCPolarity_High表示输出高电平,TIM_OCPolarity_Low表示输出低电平。
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