ieee 1149.1 中文版
时间: 2023-05-31 21:20:17 浏览: 680
### 回答1:
IEEE 1149.1是一种针对数字电路测试的标准,也被称为JTAG(联合测试动态访问组)。该标准的主要作用是提供一种方式,通过某种信号方式来访问数字电路中的测试和诊断功能。
该标准包括了访问链、测试数据寄存器、测试状态寄存器和所有操作的控制操作码等内容。在该标准下,数字电路可以实现对芯片的测试和调试,从而为设计者提供更高效的设计支持。
同时,该标准也为数字电路的制造和维护提供了各种工具和技术,使得数字电路得以快速地进行开发和维修。
虽然该标准是一项已经形成成熟的技术,但随着技术的不断发展,它也在不断进行更新和升级,以满足不断增长的数字电路测试需求。
### 回答2:
IEEE 1149.1标准,也被称为JTAG(Joint Test Action Group)标准,是一种用于电子产品测试和诊断的通用接口标准。这个标准适用于集成电路上的各种测试、诊断、控制、配置和漏洞修复等操作。它为工程师们提供了一种低成本、灵活、高效的测试和诊断解决方案。
IEEE 1149.1标准由一些控制和数据线组成,可以实现串行交互式测试和调试。这个标准通过在芯片内建一个测试访问端口(TAP),实现对芯片内部的所有测试及调试功能的控制与访问。在TAP之上,用户可以通过自定义多个测试状态来进行各种芯片级别的操作。
IEEE 1149.1标准的中心思想是为了提高测试和诊断的效率和准确性。这个标准不仅提供了一系列的测试命令和状态转移机,还提供了一种简单经济的测试结构(boundary scan),可以对集成电路中的信号引脚进行测试。通过这个测试结构,用户可以对多个芯片进行测试,并可在故障时轻松发现故障点,并且还可以轻松进行控制或调试。
总之,IEEE 1149.1标准提供了一种可以广泛应用于不同领域,从而提高测试和诊断效率和准确性的接口标准。它的出现极大地提高了集成电路的测试效率,为电子产品的高效开发和生产提供了强有力的技术支持。
### 回答3:
IEEE 1149.1中文名为“测试与可编程的交连”的标准,是一种在集成电路设计中应用广泛的技术标准。它被广泛应用于半导体器件的生产过程中,尤其是在半导体芯片的测试、排除故障和编程等方面。
IEEE 1149.1标准为芯片设计提供了一种通用的可编程测试接口,也称为JTAG(联接测试与组件测试)。其主要功能包括常规的测试操作和其他更高级别的操作,例如失效模式分析和动态信号分析。同时,它还可以通过JTAG的串行控制端口(TCK、TMS、TDI、TDO)实现电路设计的调试、配置以及功能测试等功能。
IEEE 1149.1标准在半导体生产中被广泛应用,可以大大提高产品质量和生产效率。它可以检测出不良的芯片、检测芯片的封装和焊接问题、检查电路中的信号和电源线等,从而提高产品的可靠性和稳定性。
在半导体设计领域中,IEEE 1149.1标准已成为一种通用的测试标准。同时它也是一种常用的编程接口,可以用于PLD、FPGA等可编程器件的编程,以及实现ASIC芯片的快速仿真。
总之,IEEE 1149.1标准的中文版为芯片测试与可编程交连提供了一种有效和可靠的标准方法,其中包括了芯片测试接口和数据传输接口等功能,可以大大提高芯片的测试和编程效率,是半导体行业发展中不可或缺的一部分。