AC SCAN 和DC SCAN的区别
时间: 2024-04-27 22:20:05 浏览: 6
AC SCAN和DC SCAN都是用于测试集成电路中的逻辑芯片的测试方法。它们之间的区别在于测试时使用的扫描链的不同。
具体来说,AC SCAN使用的是简单扫描链,它可以直接扫描芯片中的所有存储器单元和寄存器单元,以进行测试。AC SCAN测试方法可以快速地检测出芯片中的逻辑故障和存储器单元故障,但无法检测出芯片中的电气故障。
DC SCAN使用的是复合扫描链,它可以通过多个扫描链来实现对芯片中的逻辑和电气故障的测试。DC SCAN测试方法可以检测出芯片中的逻辑故障、存储器单元故障和电气故障,但测试效率相对较低。
综上所述,AC SCAN和DC SCAN的区别在于测试时使用的扫描链的不同,以及测试方法的适用范围和测试效率的差异。选择哪种测试方法取决于具体的测试需求和芯片设计的特点。
相关问题
AC SCAN和DC SCAN 具体
AC SCAN和DC SCAN是芯片测试中常用的两种扫描测试方法,用于检测芯片的故障和性能。
1. AC SCAN(交流扫描):
AC SCAN主要用于测试芯片的逻辑故障和电路延迟。它通过模拟输入信号的变化,观察输出信号的响应情况,以检测逻辑电路中的潜在故障。AC SCAN测试时,输入信号逐个进行变化,并观察输出信号是否符合预期的逻辑关系。常见的AC SCAN测试方法包括路径扫描(Path Scan)和故障模拟测试(Fault Simulation Test)等。
2. DC SCAN(直流扫描):
DC SCAN主要用于测试芯片的电气特性和延迟故障。它通过在芯片上施加不同的直流电压或电流,观察芯片的响应情况,以检测电路中的潜在故障和电气特性。DC SCAN测试时,根据测试需求,对芯片的输入端口施加不同的电压或电流,并观察输出端口的电压或电流变化情况。常见的DC SCAN测试方法包括静态功耗测试(Static Power Testing)和延迟故障测试(Delay Fault Testing)等。
AC SCAN和DC SCAN测试方法通常需要使用专门的测试设备和工具,如测试仪器、测试程序和测试算法等。这些测试方法在芯片制造过程中起到重要的作用,可以帮助发现芯片中的故障和问题,并确保芯片的质量和性能符合要求。
AC SCAN和DC SCAN 的IO接口 详细
AC SCAN和DC SCAN都需要与被测试芯片的IO接口进行连接,以实现对芯片的信号输入和输出的控制与观测。以下是它们的IO接口的详细说明:
1. AC SCAN的IO接口:
AC SCAN通常使用边沿触发的扫描链(Scan Chain)作为与芯片连接的IO接口。扫描链是一种串联的寄存器链,通过扫描链可以对芯片内部的寄存器和逻辑单元进行访问和控制。其具体特点包括:
- 输入信号:AC SCAN的输入信号通过扫描链输入到芯片内部。这些输入信号可以是测试模式产生器生成的扫描数据,也可以是外部信号源提供的测试数据。
- 输出信号:芯片内部逻辑单元的输出信号可以通过扫描链输出到外部,以便观测和分析。这些输出信号可以连接到观测点或测试设备进行信号采集和分析。
- 控制信号:控制扫描链工作的时钟和控制信号,用于控制扫描链的移位操作和数据加载操作。
2. DC SCAN的IO接口:
DC SCAN通常使用专用的测试引脚作为与芯片连接的IO接口。这些引脚可以用于施加直流电压或电流,以测试芯片的电气特性和延迟故障。其具体特点包括:
- 输入信号:DC SCAN的输入信号可以是直流电压或电流,通过测试引脚输入到芯片内部。这些输入信号可以是测试设备产生的电信号,也可以是外部信号源提供的电信号。
- 输出信号:芯片内部逻辑单元的输出信号可以通过测试引脚输出到外部,以便观测和分析。这些输出信号可以连接到观测点或测试设备进行信号采集和分析。
- 控制信号:控制测试引脚工作的时钟和控制信号,用于控制输入信号的切换和输出信号的采样。
需要注意的是,AC SCAN和DC SCAN的IO接口需要与测试设备(如测试仪器、探针卡)进行连接,并根据具体的测试需求进行配置和设置。具体的接口定义和连接方式可能会根据芯片厂商的设计和规范略有差异。