stm32f103c8t6光敏模块

STM32F103C8T6是一款常用的单片机芯片，可以通过搭载光敏模块实现光敏检测。光敏模块一般由光敏电阻和运放组成，可以将光信号转换为电信号进行检测。以下是使用4线光敏电阻传感器模块（光敏电阻型号5516）实现光敏检测的步骤：

1. 硬件平台选择STM32F103C8T6最小系统开发板，光敏模块选择4线光敏电阻传感器模块（光敏电阻型号5516）。

2. 根据光敏模块原理图连接硬件电路，将光敏电阻的输出端连接到STM32的模拟输入引脚上。

3. 使用STM32CubeMX的HAL库进行开发，配置ADC模块进行模拟信号采集。具体配置方法如下：

- 在Pinout & Configuration选项卡中，将光敏电阻的输出引脚对应的STM32引脚配置为模拟输入模式。

- 在Configuration选项卡中，配置ADC模块的采样时间、采样通道等参数。

4. 编写主体部分代码，使用HAL库函数读取ADC采样值，并将其转换为光强度值。具体代码如下：

   // 定义ADC句柄
   ADC_HandleTypeDef hadc1;

   // 定义变量存储ADC采样值和光强度值
   uint16_t adc_value;
   float light_intensity;

   // ADC初始化函数
   void MX_ADC1_Init(void)
   {
     ADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0};

     /** Configure the global features of the ADC (Clock, Resolution, Data Alignment and number of conversion) 
     */
     hadc1.Instance = ADC1;
     hadc1.Init.ClockPrescaler = ADC_CLOCK_SYNC_PCLK_DIV2;
     hadc1.Init.Resolution = ADC_RESOLUTION_12B;
     hadc1.Init.ScanConvMode = DISABLE;
     hadc1.Init.ContinuousConvMode = ENABLE;
     hadc1.Init.DiscontinuousConvMode = DISABLE;
     hadc1.Init.ExternalTrigConvEdge = ADC_EXTERNALTRIGCONVEDGE_NONE;
     hadc1.Init.ExternalTrigConv = ADC_SOFTWARE_START;
     hadc1.Init.DataAlign = ADC_DATAALIGN_RIGHT;
     hadc1.Init.NbrOfConversion = 1;
     hadc1.Init.DMAContinuousRequests = DISABLE;
     hadc1.Init.EOCSelection = ADC_EOC_SINGLE_CONV;
     if (HAL_ADC_Init(&hadc1) != HAL_OK)
     {
       Error_Handler();
     }

     /** Configure for the selected ADC regular channel its corresponding rank in the sequencer and its sample time.
     */
     sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_0;
     sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_1;
     sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_239CYCLES_5;
     if (HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig) != HAL_OK)
     {
       Error_Handler();
     }
   }

   // 主函数
   int main(void)
   {
     // 初始化ADC模块
     MX_ADC1_Init();

     // 循环读取ADC采样值并转换为光强度值
     while (1)
     {
       // 启动ADC采样
       HAL_ADC_Start(&hadc1);

       // 等待采样完成
       HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1, 100);

       // 读取采样值并转换为光强度值
       adc_value = HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
       light_intensity = (float)adc_value / 4096 * 3.3;

       // 输出光强度值
       printf("Light intensity: %.2f lux\r\n", light_intensity);

       // 延时一段时间
       HAL_Delay(1000);
     }
   }

5. 将代码下载到STM32F103C8T6开发板中，通过串口数据接收使用USB转TTL传输，USB转TTL的TXD接STM32的PA10引脚RXD，RXD接STM32的PA9引脚TXD，即可实现光敏检测。