FET curve tracer

FET曲线追踪仪（FET curve tracer）是一种用于测试和分析场效应晶体管（Field Effect Transistor，简称FET）的仪器。它可以通过测量和显示FET的电流-电压（I-V）特性曲线，帮助工程师了解和评估FET的性能。

FET曲线追踪仪通常由一个电源、一个信号发生器和一个示波器组成。它的工作原理是通过改变FET的栅极电压和漏极电压，测量并绘制出FET的I-V特性曲线。通过观察曲线的形状和参数，可以判断FET的工作状态、特性和性能。

使用FET曲线追踪仪可以实现以下功能：
1. 测试FET的静态工作点：通过测量曲线上的截止点、饱和点和线性区，确定FET的工作状态。
2. 评估FET的参数：通过测量曲线上的漏极电流、栅极电流和漏极电压，计算出FET的转移特性、增益和导通电阻等参数。
3. 检测FET的损坏和故障：通过观察曲线的异常变化，可以判断FET是否损坏或存在故障。

FET曲线追踪仪在电子设备的研发、生产和维修中起着重要的作用。它可以帮助工程师快速准确地测试和分析FET的性能，提高工作效率和产品质量。