IEEE1687 ICL如何定义内部的测试资源是什么意思

在 IEEE 1687 ICL（Internal JTAG Configuration Language）中，可以使用特定的语法和关键词来定义内部的测试资源。

内部的测试资源是指在集成电路（IC）内部使用的各种测试功能和组件，例如寄存器链、数据存储器、状态机等。通过定义这些内部的测试资源，ICL 可以描述 IC 内部的测试结构和功能。

以下是一个示例，展示了如何使用 ICL 定义一个内部的测试资源（寄存器链）：

test_resource my_register_chain {
    // 寄存器链的属性和参数
    size: 32;
    scan_type: serial;
    // ...
    
    // 寄存器定义
    register my_register1 {
        // 寄存器1的属性和参数
        width: 8;
        // ...
    }
    
    register my_register2 {
        // 寄存器2的属性和参数
        width: 16;
        // ...
    }
    
    // 其他寄存器定义...
}

在上述示例中，"test_resource"关键词用于定义一个名为 "my_register_chain" 的测试资源，该资源是一个寄存器链。在 "test_resource" 中，可以定义寄存器链的属性和参数，例如大小、扫描类型等。

在 "test_resource" 块内部，可以使用 "register" 关键词来定义具体的寄存器。每个寄存器可以有自己的属性和参数，例如宽度、访问权限等。

通过这种方式，ICL 可以定义和描述 IC 内部的各种测试资源，以便在测试和配置过程中使用和访问它们。这样，可以实现对 IC 内部结构和功能的灵活控制和操作。