怎么理解iJTAG?

时间: 2023-08-23 15:14:00 浏览: 118
iJTAG是指"Intelligent Joint Test Action Group",也被称为1687协议。它是对IJTAG协议的提炼,主要由三部分组成:硬件规则、仪器连接语言(ICL)和过程描述语言(PDL)。硬件规则描述了端口的功能、时序和连接规则;ICL描述了独立节点和网络;PDL描述了对端口的操作。通过阅读tessent IJTAG ug,读者可以了解到iJTAG的相关内容,而无需阅读整个IJTAG协议。[1] 另外,JTAG是Joint Test Action Group的简称,是一种调试和测试技术。IEEE 1149.1标准是由JTAG组织提出并由IEEE批准和标准化的,也被称为JTAG调试标准。该标准定义了硬件接口描述、控制器状态机以及基本的硬件描述语言BSDL和ICL以及过程描述语言PDL。JTAG通过TAP(Test Access Port)来访问芯片的数据寄存器和指令寄存器,TAP的控制由TAP控制器完成。JTAG接口通常由TCK、TMS、TDI、TDO和TRST等信号接口组成。[2][3]
相关问题

IJTAG如何配置IR

IJTAG(Internal JTAG)是一种用于配置和控制集成电路内部测试和调试功能的标准接口。在使用IJTAG配置IR(Instruction Register)时,可以按照以下步骤进行操作: 1. 确定目标芯片:首先,确定要配置IR的目标芯片。每个芯片都有不同的IR长度和IR指令。 2. 选择IR指令:根据目标芯片的规格和需求,选择适当的IR指令。IR指令用于控制芯片内部的测试和调试功能,例如读取和写入寄存器、执行测试模式等。 3. 配置TAP控制器:IJTAG使用TAP(Test Access Port)控制器与目标芯片进行通信。通过配置TAP控制器,可以使其进入测试模式,准备接收IR指令。 4. 配置IR:将选定的IR指令加载到TAP控制器中。这可以通过与TAP控制器连接的外部工具或软件完成,具体由使用的工具和环境决定。 5. 通过TAP控制器发送IR指令:将配置好的IR指令发送给目标芯片。这通常通过TAP控制器的数据线和控制线完成。发送IR指令后,目标芯片将执行相应的操作。 需要注意的是,具体的IJTAG配置过程可能因芯片和工具的不同而有所差异。因此,在实际应用中,需要参考目标芯片的文档和所使用的工具的指南,以确保正确配置IR。

tshell_ijtag_user.pdf

tshell_ijtag_user.pdf是一份关于Tshell IJTAG用户指南的文档。IJTAG代表"内建测试与配置",是一种用于集成电路测试和配置的开放式标准。 该文档介绍了如何使用Tshell IJTAG工具来进行电路测试和配置。使用Tshell IJTAG,用户可以通过扫描链(Scan Chain)来访问和配置集成电路中的测试和配置功能。 文档中详细介绍了Tshell IJTAG工具的安装和设置步骤。用户需要将Tshell IJTAG工具与支持IJTAG标准的硬件设备连接,以便进行电路测试和配置。 文档还提供了Tshell IJTAG工具的基本操作和命令说明。用户可以使用相关命令来扫描和识别集成电路中可访问的设备和连线。然后,用户可以使用特定命令来配置和操作这些设备和连线。 此外,文档还介绍了Tshell IJTAG工具的高级功能,如虚拟连线(Virtual Connection),用于在测试和配置时模拟物理连线。 总的来说,Tshell IJTAG用户指南提供了一个详细的参考,帮助用户了解和使用Tshell IJTAG工具,从而进行集成电路的测试和配置。该文档适用于需要通过IJTAG标准进行电路测试和配置的工程师和研究人员。

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IEEE 1687(也称为 Internal JTAG (IJTAG) Standard)是一种用于测试和配置芯片内部组件的标准,它定义了一种称为 ICL(Internal Configuration Language)的语言。 以下是一些 IEEE 1687 ICL 语法的基本特征: 1. 设备(Device)和接口(Interface)声明: - 使用 device 关键字声明设备,指定设备的名称和类型。 - 使用 interface 关键字声明设备的接口,指定接口的名称和类型。 2. 接口引脚(Interface Pin)声明: - 使用 pin 关键字声明接口引脚,指定引脚的名称、类型和方向(输入或输出)。 3. 通道(Channel)声明: - 使用 channel 关键字声明通道,指定通道的名称和类型。 4. 信号(Signal)声明: - 使用 signal 关键字声明信号,指定信号的名称、类型和宽度。 5. 操作(Operation)语句: - 使用 operation 关键字执行操作,可以是读取、写入或其他自定义操作。 - 操作通常指定目标设备、接口、引脚、通道或信号,以及执行的具体操作。 6. 测试(Test)语句: - 使用 test 关键字执行测试操作,可以包括测试模式、测试向量和其他测试相关的参数。 上述是 IEEE 1687 ICL 语法的一些基本要素和语句。具体的语法规范和特性可能会根据不同的实现和供应商而有所差异。如果您需要更详细的信息和具体的语法规范,请参考 IEEE 1687 标准的官方文档或相关供应商提供的文档和手册。
MB是指内存内置自检测,即Memory Built-in Self Test。它是一种在芯片设计中常用的技术,用于测试内存的正确性和可靠性。MBIST的PATR1是指MBIST的第一个部分,其中包含了TAP、TMB、BAP、SIB和Mem Interface等组件。TAP是指ijtag相关内容,是一个标准接口;TMB是Mem bist controller,包含了做mem test的所有的信号的generator,可控制多块mem;BAP是bist access port,提供控制信号给到TMB,收集TMB中的GO/DONE信号;SIB是Segment insertion bit,类似一个开门的钥匙,用于信号shift和update,增加灵活性;而Mem Interface则是mem controller和mem之间的接口,用于数据之间的传递。在MBIST的PATR1中,TMB包含了FSM,通过控制信号来进行配置和控制测试过程,同时还有信号生成和数据比对的功能。MBIST的PATR1的设计中,COMP组件在MEM interface中和TMB中都存在,具体如何放置取决于设计需求和优缺点的权衡。123 #### 引用[.reference_title] - *1* [tshell-mbist-user.pdf](https://download.csdn.net/download/tengjiexx/87621168)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_1"}}] [.reference_item style="max-width: 33.333333333333336%"] - *2* [MBIST --- PATR2.Memorybist 测试流程](https://blog.csdn.net/sinat_27691203/article/details/126335187)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_1"}}] [.reference_item style="max-width: 33.333333333333336%"] - *3* [MBIST --- PATR1.Memorybist测试原理](https://blog.csdn.net/sinat_27691203/article/details/126332996)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_1"}}] [.reference_item style="max-width: 33.333333333333336%"] [ .reference_list ]
### 回答1: IEEE Std 1687-2014是一项关于仪器嵌入控制和访问的标准。该标准提供了一种控制和访问电子系统内部仪器的方法和约束条件。 IEEE Std 1687-2014的主要目的是为了解决不同厂家生产的芯片或电子系统内部仪器访问的一致性问题。在芯片设计中,不同的仪器可能位于不同的功能模块内,由不同的供应商提供,因此仪器访问的一致性成为一个重要问题。 该标准提供了一种通用的仪器访问方法,其中使用了一种称为Internal JTAG(IJTAG)的集成电路测试访问标准。这种访问方法利用了IEEE 1149.1 JTAG(Joint Test Action Group)标准,允许通过单一的接口操控和访问芯片内部的各种仪器。 IEEE Std 1687-2014标准定义了一种称为“CoreWrapper”的数据结构,用于描述和管理芯片内部的仪器和其访问方式。CoreWrapper为每个仪器提供了一个独立的控制和访问接口,并允许在芯片设计中进行配置和组合。 通过采用IEEE Std 1687-2014标准,芯片设计师和测试工程师能够在设计和验证过程中更加灵活地控制和访问芯片内部的仪器。这种一致的仪器访问方法可以提高芯片的测试效率和可移植性,同时减少设计和测试成本。 总之,IEEE Std 1687-2014标准是一项关于仪器嵌入控制和访问的标准,通过定义一种统一的仪器访问方法,解决了芯片设计中不同仪器访问的一致性问题,提高了设计和测试的效率和可移植性。 ### 回答2: IEEE Std 1687-2014是一项关于仪器嵌入式访问和控制的标准。该标准的目的是为了提高测试和调试的效率,并且减少复杂系统中的测试点。该标准的实施依赖于一种称为Portability Interface (PI)的机制,它定义了一种可重用的嵌入式测试方法。 IEEE Std 1687-2014标准的核心是一种可编程仪器(Programmable Instrumentation),它可以通过嵌入式访问接口与系统中的各种设备进行通信。这些设备可以是处理器、存储器、I/O接口等,它们可以被测试和操纵。通过使用可编程仪器,测试和调试人员可以在系统运行时对各个部件进行灵活的控制。 与传统的测试方法相比,IEEE Std 1687-2014标准具有更高的效率和可扩展性。首先,该标准允许测试人员在运行中的系统中动态地提供和收集测试数据,而不需要停机。其次,该标准的可编程性使得测试人员可以根据测试需求自由地创建和使用各种测试模式和算法。此外,该标准还定义了一种通用的语言和接口,使得不同供应商的仪器可以互操作。 IEEE Std 1687-2014标准目前已经在许多领域得到了广泛应用,包括芯片设计、系统集成、嵌入式系统开发等。通过使用该标准,测试和调试的效率得到了大幅提升,同时也降低了测试成本和风险。这使得许多公司和组织将该标准作为其测试和调试流程的一部分,并正在加大对其应用和推广的力度。 总而言之,IEEE Std 1687-2014标准为测试和调试领域带来了许多创新和改进。通过使用可编程仪器和统一的访问接口,测试人员可以更加高效地进行测试和调试工作,提高产品质量和减少开发时间。该标准的应用和推广有望在未来得到进一步的扩大。

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