如何根据TIA/EIA-644标准设计一个具有高噪声免疫能力的LVDS接口电路？请提供设计和测试的关键步骤。

《TIA/EIA-644 LVDS 接口电路设计指南》是一份宝贵资源，对于理解和实施TIA/EIA-644标准的LVDS接口电路设计具有重要指导意义。它涵盖了设计、电气特性、互连、线路终止和抗噪声能力等内容，与你的问题直接相关。

参考资源链接：[TIA/EIA-644 LVDS 接口电路设计指南](https://wenku.csdn.net/doc/10q6kgh6aw?spm=1055.2569.3001.10343)

为提高LVDS接口电路的噪声免疫能力，首先应深入理解TIA/EIA-644标准中对电气特性的要求，确保设计的电路能够满足规定的电压摆幅、数据速率等参数，以减少信号失真和提高传输距离。
在设计互连接口时，要注重信号线的布线规则，比如选择合适的线缆长度、保持绞合密度以及使用屏蔽设计来减少EMI的影响。特别注意，要按照TIA/EIA-644标准中的规定来设计线路终止，选择正确的终端电阻值以降低信号反射，并提高接收端的信噪比。
为了增强电路的噪声免疫能力，设计时需要考虑系统对环境噪声的抵抗力，包括共模噪声和差模噪声。这可以通过选择合适的滤波器和使用差分信号传输来实现。
在设计完成后，需要对电路进行严格的测试，以确保其性能符合设计要求。眼图分析是测试的重要环节，通过它能够评估信号的定时质量和信号质量，从而测量传输延迟、抖动和信号幅度。
通过遵循上述关键步骤，并参考《TIA/EIA-644 LVDS 接口电路设计指南》，可以设计出符合标准并具备高噪声免疫能力的LVDS接口电路。设计完成后，建议进行综合测试以验证电路的实际性能，确保在各种工作环境下都具有可靠的信号传输能力。

参考资源链接：[TIA/EIA-644 LVDS 接口电路设计指南](https://wenku.csdn.net/doc/10q6kgh6aw?spm=1055.2569.3001.10343)