DFT verilog

DFT（Design for Test）是一种设计测试性的方法，用于确保芯片在生产过程中没有缺陷。\[1\]DFT测试的主要目的是发现芯片在生产过程中出现的缺陷，因此选项C是正确的。\[1\]寄存器扫描链是一种常用的DFT技术，用于在测试过程中向芯片中插入可编程寄存器，以便进行测试和故障诊断，因此选项D也是正确的。\[1\]然而，DFT测试并不涉及电路的时序问题，因此选项A是错误的。\[1\]此外，DFT测试过程通常不会消耗大量的动态功耗，因此选项B也是错误的。\[1\]\[2\]

在Verilog模块编程中，有一些原则可以遵循。例如，时序电路建模时应使用非阻塞赋值，锁存器电路建模时也应使用非阻塞赋值。\[3\]在建立组合逻辑模型时，应使用阻塞赋值，而在同一个always块中建立时序和组合逻辑电路时，应使用非阻塞赋值。\[3\]此外，不应在一个以上的always块中为同一个变量赋值，也不应在赋值时使用#0延迟。\[3\]为了显示使用非阻塞赋值的变量值，可以使用$strobe系统任务。\[3\]这些原则有助于编写可综合风格的Verilog模块。\[3\]
#### 引用[.reference_title]
- *1* *2* [【Verilog基础】DFT（Design for Test）可测性设计的一些基础概念](https://blog.csdn.net/ReCclay/article/details/126186244)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v91^insert_down1,239^v3^insert_chatgpt"}} ] [.reference_item]
- *3* [Verilog语法记录](https://blog.csdn.net/qq_43501721/article/details/110825031)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v91^insert_down1,239^v3^insert_chatgpt"}} ] [.reference_item]
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