在设计基于EPP模式的TI DSP仿真器时，如何实现通过IEEE1149.1标准对ACT8990芯片进行边界扫描以进行数据读写？

在设计基于EPP模式的TI DSP仿真器时，实现IEEE1149.1标准对ACT8990芯片的边界扫描操作是确保DSP芯片调试过程中的数据准确性和高效性的关键步骤。IEEE 1149.1标准是一种国际标准的测试访问端口和边界扫描结构（JTAG），广泛用于数字电路的测试和调试。为了通过此标准实现对ACT8990芯片的边界扫描操作，你需要遵循以下步骤：

参考资源链接：[基于EPP模式的TI DSP仿真器设计：IEEE1149.1协议与ACT8990应用](https://wenku.csdn.net/doc/46gbogqhf9?spm=1055.2569.3001.10343)

1. 理解IEEE 1149.1标准的结构，包括测试访问端口（TAP）、指令寄存器、数据寄存器、TMS（测试模式选择）、TCK（测试时钟）、TDI（测试数据输入）和TDO（测试数据输出）。

2. 确保ACT8990芯片已正确集成到DSP系统中，并且已经配置了相应的边界扫描链路。

3. 使用适当的测试设备，如逻辑分析仪或专门的边界扫描控制器，连接到EPP接口。

4. 开发或使用现有的边界扫描软件来控制测试设备，这通常涉及到发送一系列的TMS信号以引导TAP控制器进入不同的状态，并通过TDI发送相应的指令和数据。

5. 实现数据读写操作时，首先通过TDI将读写指令加载到指令寄存器，然后通过TDI发送或接收数据到数据寄存器。在写操作中，数据寄存器将被加载到芯片内部的相应位置；在读操作中，内部数据将被捕获到数据寄存器中，并通过TDO输出。

6. 在CCS开发环境中，配置并口控制模块SMC34C60，使其能够通过并行接口与外部测试设备通信，从而实现对DSP芯片的实时监控和控制。

7. 测试和验证整个边界扫描系统是否能够正确地读取和写入数据到ACT8990芯片，并确保调试过程中的信号完整性和速度满足要求。

通过以上步骤，你可以有效地在基于EPP模式的TI DSP仿真器中实现对ACT8990芯片的边界扫描操作。更多细节和深入的技术信息，可以参考《基于EPP模式的TI DSP仿真器设计：IEEE1149.1协议与ACT8990应用》，这本书详细介绍了整个设计过程以及相关的技术细节。

参考资源链接：[基于EPP模式的TI DSP仿真器设计：IEEE1149.1协议与ACT8990应用](https://wenku.csdn.net/doc/46gbogqhf9?spm=1055.2569.3001.10343)