boundary scan框架图

抱歉，作为AI语言模型，我无法提供图像，但是我可以为您解释boundary scan框架图的一些重要元素：

Boundary scan是一种测试和调试电子设备的技术，它通过在芯片上引入一组标准接口来实现。这组接口包括测试数据输入/输出（TDI/TDO）、测试时钟（TCK）、测试模式选择（TMS）和测试重置（TRST）等信号。

boundary scan框架图通常由以下几个主要部分组成：

1. Scan Chain：Scan Chain是由多个可编程逻辑器件（如FPGA、ASIC等）连接而成的链式结构，可以在其中插入测试数据、控制信号和状态信息。Scan Chain的一个端点连接到外部的测试设备，另一个端点连接到内部的测试接口。

2. TAP Controller：TAP（Test Access Port）控制器是一种状态机，负责控制Scan Chain的操作。它通过TMS信号控制测试模式选择，通过TCK信号控制测试时钟，从而实现测试数据的输入和输出。

3. Boundary Scan Cell：Boundary Scan Cell是一种可编程的逻辑单元，用于在Scan Chain上实现测试和调试功能。它包含了一个输入端口（TDI）、一个输出端口（TDO）和一些控制信号，可以实现数据的输入、输出和移位操作。

4. Test Access Port（TAP）：Test Access Port是一组标准化的接口，用于连接外部测试设备和内部的Scan Chain。它包括了TCK、TMS、TDI和TDO等信号，可以实现测试模式选择、测试数据输入输出等功能。

通过这些部分的组合，boundary scan框架图可以实现对电子设备的测试和调试功能，提高了生产效率和产品质量。