芯片CP测试erase

芯片(CPU)测试中的erase操作通常是指对闪存存储器(如EEPROM或NAND Flash)中的数据擦除过程。在半导体设备中，闪存存储单元可以用来持久保存信息，但在编程新数据之前，需要先将其原有的内容清除。erase操作是对整个闪存块的操作，而非单个存储单元。这个过程通常是通过硬件控制器完成的，它会设置特定的命令序列，使得所有数据在电场作用下变为原始状态，以便于后续写入新的二进制数据。erase操作对于固件更新、初始化等场景至关重要。