51单片机光照强度检测系统设计

光照强度检测系统通常使用光敏电阻来检测环境光照强度。光敏电阻是一种特殊的电阻，其电阻值随着环境光照强度的变化而变化。因此，我们可以通过读取光敏电阻的电阻值来检测环境光照强度的变化。

以下是一个基于51单片机的光照强度检测系统设计流程：

1. 硬件设计

需要使用光敏电阻和51单片机来设计硬件电路。将光敏电阻连接到单片机的模拟输入引脚，根据光敏电阻的电阻值来读取环境光照强度的变化。

2. 软件设计

在单片机中编写程序，读取模拟输入引脚的电压值，转换为光照强度的值，并通过串口输出到计算机上显示。

以下是一个简单的程序示例：

#include <reg52.h>

#define ADC_CHANNEL 0 // 模拟输入引脚选择

void delay(unsigned int t) // 延时函数
{
    unsigned int i;
    while(t--)
    {
        for(i=0; i<125; i++);
    }
}

unsigned int read_adc(unsigned char channel) // 读取模拟输入引脚的电压值
{
    unsigned int value;
    ADC_CONTR = 0x80 | channel; // 设置通道
    delay(1); // 延时等待转换完成
    ADC_CONTR |= 0x20; // 启动转换
    while(!(ADC_CONTR & 0x10)); // 等待转换完成
    value = ADC_RES;
    value = (value << 2) + ADC_RESL;
    return value;
}

void main()
{
    unsigned int adc_value;
    while(1)
    {
        adc_value = read_adc(ADC_CHANNEL);
        printf("Light Intensity: %d\n", adc_value);
        delay(500);
    }
}

该程序通过读取模拟输入引脚的电压值并转换为光照强度的值，然后通过串口输出到计算机上显示。可以根据需要调整程序来满足实际需求。