对比联合剖面法与激发极化法方法在低阻体上产生的异常幅值；

联合剖面法和激发极化法是两种不同的实验方法，用于研究材料的电学性质和表面性质。它们在低阻体上产生的异常幅值可能存在一些差异，具体如下：

1. 联合剖面法：该方法通过测量材料中的电子浓度和迁移率来确定其导电性质。在低阻体中，由于杂质或缺陷等因素的存在，电子浓度和迁移率可能会出现异常，从而导致定性分析曲线中出现异常的幅值。这种异常幅值通常会比较小，通常在曲线中表现为一个小峰或者凹陷。

2. 激发极化法：该方法通过施加电场来激发材料表面的电荷，从而确定其表面性质。在低阻体中，由于表面的结构特征或者缺陷等因素的存在，电荷的极化响应可能会出现异常，从而导致定性分析曲线中出现异常的幅值。这种异常幅值通常会比较大，通常在曲线中表现为一个明显的峰或者波峰。

需要注意的是，异常幅值的大小并不一定能够直接反映出材料的性质或者缺陷的程度，因此需要结合其他实验结果和分析方法来进行综合判断。

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定性了解联合剖面法与激发极化法装置对低阻体的敏感程度

联合剖面法和激发极化法是两种常用的实验方法，用于研究材料的电学性质和表面性质。它们对低阻体的敏感程度可能存在一些差异，具体如下：

1. 联合剖面法：该方法主要测量材料中的电子浓度和迁移率，因此对于低阻体的敏感程度比较高。在实验中，需要将低阻体切成薄片，并在其表面涂上一层金属电极，以便进行电子浓度和迁移率的测量。由于样品制备和实验条件等因素的影响，可能会对测量结果产生一定的误差。

2. 激发极化法：该方法主要测量材料表面的电荷响应，因此对于低阻体的敏感程度相对较低。在实验中，需要将低阻体放置在激发极化装置中，通过施加电场来激发样品表面的电荷。由于低阻体的电导率较高，可能会对电场的分布和样品表面的电荷响应产生一定的影响，从而影响测量结果。

需要注意的是，联合剖面法和激发极化法都需要使用专业的仪器和技术，如果您没有相关的实验经验，建议寻求专业人士的帮助。此外，定性了解联合剖面法和激发极化法对低阻体的敏感程度的同时，还需要结合样品的具体情况和实验条件进行综合判断。

联合剖面法与激发极化法实验定性分析曲线与低阻体的对应关系

联合剖面法和激发极化法是两种常用的实验方法，用于研究材料的电学性质和表面性质。这两种方法可以用于定性分析曲线与低阻体的对应关系，具体步骤如下：

1. 联合剖面法：将低阻体切成薄片，并在其表面涂上一层金属电极。然后使用联合剖面法，通过测量样品中的电子浓度和迁移率来确定低阻体的导电性质。将测量结果绘制成定性分析曲线，通过分析曲线中的异常体来确定低阻体的杂质类型和含量。

2. 激发极化法：将低阻体放置在激发极化装置中，通过施加电场来激发样品表面的电荷。然后使用激发极化法，通过测量样品的极化电流和极化电荷来确定样品的表面性质。将测量结果绘制成定性分析曲线，通过分析曲线中的异常体来确定低阻体的表面形貌和结构特征。

需要注意的是，联合剖面法和激发极化法都需要使用专业的仪器和技术，如果您没有相关的实验经验，建议寻求专业人士的帮助。此外，定性分析曲线与低阻体的对应关系也需要结合样品的具体情况进行分析和判断。