Marchand Balun

Marchand巴伦是一种三端口的功分器，用于将输入信号分为两个相位相反的输出信号。根据公式推导，当输入输出均匹配时，要求S11=0，S21= -S31。在输入端口和输出端口均匹配的情况下，通过公式计算得到巴伦的S参数矩阵。\[2\]

与一般直觉不同的是，用耦微带线设计的Marchand巴伦的耦合系数并不是-3dB，而是-4.77dB。此外，Marchand巴伦的另外两个端口并不满足匹配的条件，即port2和port3端口并不匹配。这也验证了之前的结论，即无损互易的三端口网络不可能使全部端口匹配。\[3\]
#### 引用[.reference_title]
- *1* *2* *3* [关于巴伦——Marchand巴伦](https://blog.csdn.net/luohuo9844/article/details/121978853)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v91^insertT0,239^v3^insert_chatgpt"}} ] [.reference_item]
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相关问题

内存march扫描算法

内存 march 扫描算法是一种用于测试计算机内存是否存在硬件故障的基准测试方法。它通过在内存中存储和读取数据模式的不同组合，来检测内存中的故障。下面是一个简单的内存 march 扫描算法：

1. 定义一个数据块大小，例如 1KB。

2. 从内存中分配一个大的数组，大小为测试期望的最大内存块大小的两倍。

3. 将数组分成四个部分，每个部分大小为数组总大小的四分之一。

4. 对于每个部分，执行以下步骤：

a. 使用全 0 或全 1 的模式来初始化数据块。

b. 对于每个数据块大小，按照以下模式存储和读取数据：

i. 存储全 0 模式的数据块。

ii. 存储全 1 模式的数据块。

iii. 存储交替的 0 和 1 模式的数据块。

iv. 存储随机模式的数据块。

c. 检查存储和读取的数据是否匹配，如果不匹配，则表示内存中存在故障。

5. 输出所有部分的测试结果。

需要注意的是，内存 march 扫描算法只能检测硬件故障，而不能检测软件故障或其他问题。因此，在进行测试之前，应该确保计算机的软件环境和设置正确无误。同时，应该在相同的环境下多次运行测试，以获得更准确的结果。

基于march c 算法的mbist设计

### 回答1：
基于MARCH C算法的MBIST设计是一种存储器测试技术，用于检测和诊断存储器中的故障。MARCH C是MARCH算法系列中的一种，用于测试带有存储单元（例如SRAM或DRAM）的存储器。

MARCH C算法通过在存储器中连续地写入、读取不同的数据模式，以及通过对存储单元进行不同的操作来检测故障。该算法通过以下四个步骤循环进行：

1. M序列（March Selective Write，选择性写入）：将特定模式的数据写入存储器的各个存储单元，用于创造故障条件。

2. M序列（March Access，访问）：读取存储器中的数据，以便检测可能存在的故障。

3. M序列（March Refresh，刷新）：在存储器中执行定期的刷新操作，确保数据的正确性。

4. M序列（March Compare，比较）：将存储器中读取的数据与之前写入的数据进行比较，以检测故障。

基于MARCH C算法的MBIST设计具有以下优点：

1. 高效性：MARCH C算法能够有效地探测出大多数常见存储器故障，并且具有较高的故障覆盖率。

2. 灵活性：MARCH C算法可以根据具体需求进行调整，例如在写入和读取的模式选择上可以进行变化，以满足特定测试要求。

3. 可控性：基于MARCH C算法的MBIST设计提供了对存储器测试过程的控制，可以根据需要进行自定义测试流程和参数调整。

4. 实用性：MARCH C算法已经广泛应用于各种存储器测试中，其性能和可靠性得到了验证。

总之，基于MARCH C算法的MBIST设计是一种能够有效测试和诊断存储器故障的方法，并具有高效性、灵活性和可控性等优点。

### 回答2：
基于March C算法的MBIST设计是一种用于测试存储器功能和稳定性的方法。MBIST表示存储器内建自测试，它使用一套包含了一系列不同的March测试序列来检查存储器单元的读写操作。

March C算法是其中一种常用的测试序列，它极大地简化了测试过程。该算法通过将测试序列划分为四个步骤：March C1、March C2、March C3和March C4来完成测试。每个步骤都对存储器单元进行不同的读写操作，并在测试序列迭代过程中更新存储器单元的状态。

在March C1中，所有存储器单元被写入相同的非零数据。然后，March C2进行读取和写入操作，并检查读取值是否等于先前写入的非零数据。在March C3中，所有存储器单元都被写入相反的前一步骤的数据。最后，在March C4中进行最后一次读取和写入操作，并检查读取值是否等于原始非零数据。

基于March C算法的MBIST设计具有高效性和可靠性。它可以有效地检测存储器中的单元故障，例如单元失效、硬链接和阻塞等。此外，March C算法还能提供良好的噪声抵抗能力和误报率控制，从而提高了测试结果的准确性和可靠性。

总之，基于March C算法的MBIST设计可以帮助保证存储器的正确性和可靠性。它是一种经过验证的方法，广泛应用于芯片和系统集成电路的生产过程中。

### 回答3：
基于MARCH C（Memory Array Repair and Checker for Caches）算法的MBIST（Memory Built-In Self-Test）设计是一种用于测试内存和缓存的自动化解决方案。MARCH C算法是一系列的测试模式，通过循环执行特定的步骤来识别和修复存储器芯片中的故障。

MBIST设计中的MARCH C算法通过一系列读取和写入操作来测试存储器芯片。首先，进行“M”模式，将数据写入存储单元。接下来，通过执行“A”模式来检查写入的数据是否正确存储。如果发现错误，则会使用“R”模式修复该存储单元。“C”模式用于检查存储器中的相邻单元是否受到干扰。最后，通过执行“H”模式来检查存储单元是否存在隐含错误。

基于MARCH C算法的MBIST设计具有以下优点。首先，它可以自动化执行测试，减少了人工操作的需求，提高了测试效率。其次，该算法可以快速识别和修复存储器中的错误，从而提高了存储器的可靠性和稳定性。此外，该算法具有良好的适应性，可以应用于各种类型的存储器和缓存。

在实际的设计中，基于MARCH C算法的MBIST需要通过适当的控制逻辑来实现测试模式的循环执行和故障的检测与修复。测试结果可以通过存储器芯片的输出端口进行读取，并可以与预期结果进行比较来判断存储器的工作状态。

总而言之，基于MARCH C算法的MBIST设计是一种高效、自动化的测试方案，用于检测和修复存储器和缓存的故障。它在现代计算机系统中起着至关重要的作用，确保存储器的可靠性和性能。