stm32修改adc采样频率

### STM32 ADC采样率配置方法

在STM32中调整ADC采样率主要依赖于两个因素：ADC时钟源的选择以及采样时间的设定。对于不同的应用场合，合理的参数设置能够有效提升测量精度或是加快响应速度。

#### 配置ADC时钟分频系数

通过改变ADC预分频器可以间接影响最终的有效采样速率。这一步骤通常是在初始化阶段完成，在`MX_ADC1_Init()`函数内部实现。具体来说就是修改结构体变量中的`ClockPrescaler`成员来达到目的[^1]。

hadc1.Instance = ADC1;
hadc1.Init.ClockPrescaler = ADC_CLOCK_SYNC_PCLK_DIV4; // 设置为PCLK除以4作为ADC工作频率

#### 调整通道采样周期

除了全局性的时钟控制之外，还可以针对每一个输入通道单独指定其所需的采样时间和保持时间段长度。这些参数同样位于初始化过程中被定义，并且存储在一个名为`sConfig`的对象里。下面给出了一段示范代码用来说明怎样精确地定制单个模拟量输入端口的工作模式：

sConfig.Channel      = ADC_CHANNEL_0;          /* 使用PA0管脚 */
sConfig.Rank         = 1;                       /* 排序优先级 */
sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_3CYCLES; /* 设定采样时间为3个APB定时单位 */
if (HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig) != HAL_OK){
    Error_Handler();
}

值得注意的是，默认情况下每个样本至少需要消耗一定数量的ADC核心时钟周期来进行处理；而这里的选项允许开发者根据实际需求灵活调节这一数值大小，从而直接影响整体吞吐性能[^3]。

另外一种更高效的方式则是利用DMA控制器自动传输大量连续的数据流至内存缓冲区，此时可以通过预先计算好所需总字节数并相应地规划好相应的硬件资源分配策略，进而简化编程逻辑的同时也提高了系统的实时性和稳定性[^4]。