芯片测试项目LVD_test

LVD_test 是一个芯片测试项目，它的作用是测试芯片中的低电压检测电路（Low Voltage Detection）是否能够正常工作。在测试过程中，会通过控制芯片的供电电压，来触发低电压检测电路，然后检测低电压检测电路的输出信号，来判断它是否正常工作。测试通过的标准是低电压检测电路应该能够在芯片供电电压低于预设阈值时，及时输出低电压信号，并能够保证芯片的正常运行。这个测试项目通常会被用于芯片的生产线测试和质量控制等场景。LVD_test 主要用于检测芯片在低电压情况下的可靠性和稳定性，以确保芯片的正常运行和安全性能。