芯片验证中的case 抽取

在芯片验证中，case 抽取是指从设计规格书或测试计划中抽取需要验证的测试场景或测试用例。这个过程通常涉及以下步骤：

1. 定义测试目标和测试计划，确定需要验证的功能和性能指标。

2. 从设计规格书或测试计划中抽取测试场景或测试用例，这些测试场景或测试用例应该能够覆盖设计规格书或测试计划中定义的所有功能和性能指标。

3. 对测试场景或测试用例进行分类和组合，以确保测试场景或测试用例之间的独立性和完整性。

4. 对测试场景或测试用例进行优化和精简，以确保测试时间和资源的最优化利用。

5. 编写测试代码，并进行测试环境的搭建和调试。

6. 执行测试，收集测试结果，并进行分析和评估。

7. 根据测试结果对设计规格书或测试计划进行调整和优化，以提高测试效率和测试质量。

相关问题

芯片验证case 抽取后的case 转化成diag case

假设我们将芯片验证的抽取后的case转化为一个诊断用例（diag case），可以将描述如下：

症状：芯片验证过程中发现某个输入数据无法正确输出，经过排查发现该输入数据对应的逻辑电路存在问题。

诊断：确认逻辑电路存在问题，需要进一步分析原因。

治疗方案：对逻辑电路进行详细的仿真分析，找出问题所在并进行修复。

注意事项：在修复过程中需要保证修复的逻辑电路与设计文档一致，并进行全面的功能验证以确保修复效果。

case 抽取后能复用到SLT或者diag 测试中吗？

是的，case 抽取后的测试用例可以复用到 SLT（生产测试）或者 diag（诊断测试）中。这是因为在芯片验证中，case 抽取的测试用例通常是基于设计规格书或测试计划中定义的测试需求和测试目标来抽取的。这些测试需求和测试目标与生产测试和诊断测试中的测试需求和测试目标是相似的，因此抽取的测试用例可以复用到这些测试中。

在生产测试中，需要对芯片进行全面的测试，验证芯片的性能和可靠性等指标是否符合设计规格书中的要求。为了实现这个目标，生产测试通常包括诊断测试、SLT 测试和功能测试等多种测试类型。抽取的测试用例可以用于设计和实现这些测试，以保证测试的全面性和有效性。

在诊断测试中，需要对芯片进行故障诊断，以确定芯片中存在的故障，并对故障进行定位和修复。抽取的测试用例可以用于设计和实现这些测试，以帮助诊断人员更快速地识别和解决芯片中的故障。

因此，case 抽取后的测试用例可以在芯片验证、生产测试和诊断测试中进行复用，提高测试的效率和测试用例的重复利用率。