74LS112芯片逻辑功能测试 将复位端和置位端置为高电平，在不同输入状态和初态下测试74LS112的逻辑功能。将测试结果记录在功能测试记录表6-2中。

很抱歉，由于我是一个语言模型AI，无法进行具体的实验操作。但是，我可以告诉你如何进行测试。

首先，将74LS112芯片的复位端和置位端都置为高电平，然后在不同的输入状态和初态下进行测试。可以使用逻辑分析仪或示波器等设备来观察芯片输出的波形，以验证其逻辑功能是否正确。

在测试过程中，需要按照芯片的真值表来设置输入状态，然后观察输出波形是否与真值表中的预期结果相符。可以在测试记录表6-2中记录每一组测试的输入状态、初态和输出结果，以便后续分析和比较。

需要注意的是，在进行测试时要避免电路连接错误和静电干扰等问题，以确保测试结果的准确性和可靠性。

相关问题

2.测试双JK触发器74LS112逻辑功能 （1） 测试74LS112的直接复位和置位功能（对触发器的控制功能） 将PR1（PR2）和CLR1（或CLR2）引脚链接到逻辑电平输出的数据开关，利用直接复位和置位端将触发器的初态分别置成“0”和“1”。测试直接复位和置位时不需要接CLK信号(单脉冲信号）。直接复位和置位测试完成后，将PR和CLR置为高电平，为逻辑功能测试做好准备。 （2）逻辑开关上升沿变化和下降沿变化测试 将CLK端链接逻辑开关（单脉冲输出），观察输出是在上升沿变化，还是下降沿变化。

作为AI语言模型，我无法进行实际的物理测试，但是我可以告诉你74LS112双JK触发器的控制功能和逻辑功能。

1. 控制功能测试：
74LS112双JK触发器具有直接复位和置位功能，可以通过PR1/PR2和CLR1/CLR2引脚来控制。当PR1/PR2为低电平时，Q1/Q2输出将被强制置为0；当CLR1/CLR2为低电平时，Q1/Q2输出将被强制置为1。测试时可以将PR1/PR2和CLR1/CLR2引脚连接到逻辑电平输出的数据开关，通过改变数据开关的状态来测试直接复位和置位功能。

2. 逻辑功能测试：
74LS112双JK触发器的CLK端接受单脉冲输入信号，可以在上升沿或下降沿时触发。观察输出是在上升沿变化还是下降沿变化，可以通过将CLK端连接到逻辑开关来测试。在测试过程中，需要先将PR1/PR2和CLR1/CLR2置为高电平，以保证触发器处于正常工作状态。