基于STM32F103C8T6的光敏电阻传感器采用ADC转换得出模拟量2000对应的lx是多少

光敏电阻传感器的输出信号是模拟信号，需要通过ADC进行转换为数字信号。在STM32F103C8T6芯片中，ADC的分辨率为12位，即可以将模拟信号转换为0~4095的数字值。根据光敏电阻的特性，它的输出电阻会随着光照强度的变化而变化，因此需要根据具体的光敏电阻传感器的特性曲线来确定lx和ADC转换值之间的关系。一般来说，可以通过将光敏电阻传感器置于特定照度下，测量出相应的ADC转换值，然后通过插值法计算出其他照度下的ADC值。一种常用的方法是使用一个光照度标准源，如Tungsten灯泡，将光敏电阻置于标准源下，通过测量ADC转换值和标准源下的光照度，建立二者之间的线性关系，从而计算出不同照度下的ADC值对应的光照度lx。因此，无法准确回答您的问题，需要您提供更多的信息，或者根据具体的实验条件进行实际的测量和计算。

相关问题

基于STM32F103C8T6的光敏电阻传感器采用ADC转换得出模拟信号转换为2000的数字值对应的lx是多少

要计算得出2000的ADC转换值对应的光照度lx，需要知道光敏电阻传感器的具体特性曲线以及实验条件。以下是一种可能的计算方法：

1. 根据光敏电阻传感器的特性曲线，确定光敏电阻在标准光照条件下的电阻值R1和在待测光照条件下的电阻值R2。
2. 根据STM32F103C8T6芯片的ADC分辨率，将2000的数字值转换为模拟电压值V1。
3. 根据STM32F103C8T6芯片的ADC参考电压值，将模拟电压值V1转换为电压V2。
4. 根据光敏电阻的特性，计算出在标准光照条件下的光照度L1和在待测光照条件下的光照度L2。
5. 根据光敏电阻的特性曲线，计算出在标准光照条件下的ADC转换值A1和在待测光照条件下的ADC转换值A2。
6. 根据线性插值法，计算出2000的ADC转换值在标准光照条件下对应的光照度Lx。

需要注意的是，不同的光敏电阻传感器具有不同的特性曲线，不同的实验条件也会影响计算结果的准确性。因此，以上计算方法仅供参考，具体的计算需要根据实际情况进行调整。

基于STM312F103C8T6光敏电阻传感器模拟量输入ADC的ADC防抖的库函数

以下是基于STM32F103C8T6光敏电阻传感器模拟量输入ADC的ADC防抖的库函数示例代码：

#include "stm32f10x.h"

#define ADC1_DR_Address ((u32)0x4001244C)

__IO uint16_t ADC_ConvertedValue;

void ADC_Configuration(void)
{
  GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure;
  ADC_InitTypeDef ADC_InitStructure;
  DMA_InitTypeDef DMA_InitStructure;

  RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_ADC1 | RCC_APB2Periph_GPIOA | RCC_APB2Periph_AFIO, ENABLE);
  RCC_AHBPeriphClockCmd(RCC_AHBPeriph_DMA1, ENABLE);

  GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = GPIO_Pin_0;
  GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AIN;
  GPIO_Init(GPIOA, &GPIO_InitStructure);

  DMA_DeInit(DMA1_Channel1);
  DMA_InitStructure.DMA_PeripheralBaseAddr = ADC1_DR_Address;
  DMA_InitStructure.DMA_MemoryBaseAddr = (u32)&ADC_ConvertedValue;
  DMA_InitStructure.DMA_DIR = DMA_DIR_PeripheralSRC;
  DMA_InitStructure.DMA_BufferSize = 1;
  DMA_InitStructure.DMA_PeripheralInc = DMA_PeripheralInc_Disable;
  DMA_InitStructure.DMA_MemoryInc = DMA_MemoryInc_Disable;
  DMA_InitStructure.DMA_PeripheralDataSize = DMA_PeripheralDataSize_HalfWord;
  DMA_InitStructure.DMA_MemoryDataSize = DMA_MemoryDataSize_HalfWord;
  DMA_InitStructure.DMA_Mode = DMA_Mode_Circular;
  DMA_InitStructure.DMA_Priority = DMA_Priority_High;
  DMA_InitStructure.DMA_M2M = DMA_M2M_Disable;
  DMA_Init(DMA1_Channel1, &DMA_InitStructure);

  DMA_Cmd(DMA1_Channel1, ENABLE);

  ADC_InitStructure.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent;
  ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = DISABLE;
  ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = ENABLE;
  ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConv = ADC_ExternalTrigConv_None;
  ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right;
  ADC_InitStructure.ADC_NbrOfChannel = 1;
  ADC_Init(ADC1, &ADC_InitStructure);

  ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_0, 1, ADC_SampleTime_55Cycles5);

  ADC_DMACmd(ADC1, ENABLE);

  ADC_Cmd(ADC1, ENABLE);

  ADC_ResetCalibration(ADC1);

  while(ADC_GetResetCalibrationStatus(ADC1));

  ADC_StartCalibration(ADC1);

  while(ADC_GetCalibrationStatus(ADC1));

  ADC_SoftwareStartConvCmd(ADC1, ENABLE);
}

int main(void)
{
  ADC_Configuration();

  while(1)
  {
    // 进行防抖处理
    uint16_t adc_value = ADC_ConvertedValue;
    uint16_t adc_sum = adc_value;
    uint8_t count = 15;
    while (count--)
    {
      ADC_SoftwareStartConvCmd(ADC1, ENABLE);
      while(!DMA_GetFlagStatus(DMA1_FLAG_TC1));
      DMA_ClearFlag(DMA1_FLAG_TC1);
      adc_value = ADC_ConvertedValue;
      adc_sum += adc_value;
    }
    adc_value = adc_sum >> 4; // 取平均值

    // 处理ADC采集的数据
    // ...

    delay_ms(10);
  }
}

void delay_ms(uint16_t ms)
{
  uint16_t i, j;
  for (i = 0; i < ms; i++)
  {
    for (j = 0; j < 1141; j++);
  }
}

这段代码中，我们使用了DMA传输来获取ADC的转换值，同时使用防抖的方法对采集到的数据进行处理。在上述代码中，我们取了16次ADC采样的平均值来进行防抖处理。通过这种方式，可以有效地避免ADC采集到的噪声干扰。