STM32双ADC交错采集代码标准库

以下是STM32双ADC交错采集的代码，使用标准库实现：

#include "stm32f10x.h"

ADC_InitTypeDef ADC_InitStructure;

uint16_t ADC1ConvertedValue[2];
uint16_t ADC2ConvertedValue[2];

void RCC_Configuration(void)
{
  RCC_ADCCLKConfig(RCC_PCLK2_Div6);

  RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_GPIOA | RCC_APB2Periph_ADC1 | RCC_APB2Periph_ADC2, ENABLE);
}

void GPIO_Configuration(void)
{
  GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure;

  GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = GPIO_Pin_0 | GPIO_Pin_1;
  GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AIN;
  GPIO_Init(GPIOA, &GPIO_InitStructure);
}

void ADC_Configuration(void)
{
  ADC_CommonInitTypeDef ADC_CommonInitStructure;

  ADC_DeInit(ADC1);
  ADC_DeInit(ADC2);

  ADC_CommonInitStructure.ADC_Mode = ADC_Mode_Independent;
  ADC_CommonInitStructure.ADC_Prescaler = ADC_Prescaler_Div6;
  ADC_CommonInitStructure.ADC_DMAAccessMode = ADC_DMAAccessMode_Disabled;
  ADC_CommonInitStructure.ADC_TwoSamplingDelay = ADC_TwoSamplingDelay_5Cycles;
  ADC_CommonInit(&ADC_CommonInitStructure);

  ADC_InitStructure.ADC_ContinuousConvMode = DISABLE;
  ADC_InitStructure.ADC_ScanConvMode = ENABLE;
  ADC_InitStructure.ADC_ExternalTrigConv = ADC_ExternalTrigConv_None;
  ADC_InitStructure.ADC_DataAlign = ADC_DataAlign_Right;
  ADC_InitStructure.ADC_NbrOfChannel = 2;
  ADC_Init(ADC1, &ADC_InitStructure);
  ADC_Init(ADC2, &ADC_InitStructure);

  ADC_RegularChannelConfig(ADC1, ADC_Channel_0, 1, ADC_SampleTime_7Cycles5);
  ADC_RegularChannelConfig(ADC2, ADC_Channel_1, 1, ADC_SampleTime_7Cycles5);

  ADC_ExternalTrigConvCmd(ADC1, DISABLE);
  ADC_ExternalTrigConvCmd(ADC2, DISABLE);

  ADC_Cmd(ADC1, ENABLE);
  ADC_Cmd(ADC2, ENABLE);

  while(!ADC_GetFlagStatus(ADC1, ADC_FLAG_ADEN));
  while(!ADC_GetFlagStatus(ADC2, ADC_FLAG_ADEN));
}

int main(void)
{
  RCC_Configuration();
  GPIO_Configuration();
  ADC_Configuration();

  while(1)
  {
    ADC_SoftwareStartConv(ADC1);
    ADC_SoftwareStartConv(ADC2);

    while(!ADC_GetFlagStatus(ADC1, ADC_FLAG_EOC));
    while(!ADC_GetFlagStatus(ADC2, ADC_FLAG_EOC));

    ADC1ConvertedValue[0] = ADC_GetConversionValue(ADC1);
    ADC2ConvertedValue[0] = ADC_GetConversionValue(ADC2);

    ADC_SoftwareStartConv(ADC1);
    ADC_SoftwareStartConv(ADC2);

    while(!ADC_GetFlagStatus(ADC1, ADC_FLAG_EOC));
    while(!ADC_GetFlagStatus(ADC2, ADC_FLAG_EOC));

    ADC1ConvertedValue[1] = ADC_GetConversionValue(ADC1);
    ADC2ConvertedValue[1] = ADC_GetConversionValue(ADC2);
  }
}

这段代码配置了两个ADC实例，使用交错扫描模式进行采集，每次采集两个通道的数据，交错采集的原理是在采集两次后交替使用两个ADC实例，以提高采样速率。在主循环中，首先启动两个ADC实例进行采集，等待采集完成后，将结果存储在相应的数组中。然后再次启动采集，采集另外两个通道的数据，并存储在相应的数组中。这种方式可以实现比较高的采样速率，适用于一些要求高速采样的应用场景。