【vivado】ILA调试报错 The debug hub core was not detected 以及 Data read from hw_ila [hw_ila_1] is corrupted...
时间: 2024-04-28 15:20:14 浏览: 328
这个错误通常是由于硬件调试器连接不到目标设备导致的。以下是可能的解决方法:
1. 确保你的调试器与目标设备正确连接。检查连接器和电缆是否正确连接且无损伤。
2. 确保目标设备的正确的JTAG端口和速度被设置。在Vivado中,你可以在"Hardware Manager"窗口的"Open target"选项卡中设置这些选项。
3. 确保目标设备的时钟频率被正确设置。如果时钟频率太高,可能会导致通信错误。
4. 尝试重新启动调试器和Vivado。这有时可以解决通信问题。
5. 如果你正在使用ILAs进行调试,确保你的设计中已经正确地实例化了它们。还要确保你已经正确配置了ILAs以及它们的时钟和触发条件。
如果以上方法都无法解决问题,你可以尝试在Xilinx官方网站上查找更多的解决方案,或者联系Xilinx技术支持。
相关问题
WARNING: [Labtools 27-3361] The debug hub core was not detected. Resolution: 1. Make sure the clock connected to the debug hub (dbg_hub) core is a free running clock and is active. 2. Make sure the BSCAN_SWITCH_USER_MASK device property in Vivado Hardware Manager reflects the user scan chain setting in the design and refresh the device. To determine the user scan chain setting in the design, open the implemented design and use 'get_property C_USER_SCAN_CHAIN [get_debug_cores dbg_hub]'. For more details on setting the scan chain property, consult the Vivado Debug and Programming User Guide (UG908). WARNING: [Labtools 27-3403] Dropping logic core with cellname:'u_ila_0' from probes file, since it cannot be found on the programmed device.
这是一条警告信息,可能意味着在调试过程中出现了一些问题。提示信息建议检查调试核心连接的时钟是否处于活动状态,并确保 Vivado Hardware Manager 中的 BSCAN_SWITCH_USER_MASK 设备属性反映了设计中的用户扫描链设置。可以打开实现的设计,使用命令“get_property C_USER_SCAN_CHAIN [get_debug_cores dbg_hub]”来确定设计中的用户扫描链设置。如果需要设置扫描链属性,可以参考 Vivado Debug and Programming User Guide (UG908)。另外,还提示了一个名为“u_ila_0”的逻辑核心从探针文件中被删除了,可能是因为它在已编程设备上找不到。
vivado ILA debug
ILA(Integrated Logic Analyzer)是Xilinx Vivado设计套件中的一个集成逻辑分析仪工具,它允许设计者在FPGA运行时捕获内部信号,进行调试。通过ILA,用户可以在FPGA内部实现一个触发条件和数据捕获的逻辑,这样可以在遇到特定事件时观察到FPGA内部信号的状态,而无需使用外部逻辑分析仪。使用ILA进行调试的过程通常包括以下几个步骤:
1. 添加ILA核心:在Vivado中,用户可以通过IP Catalog添加ILA核心到他们的设计中。
2. 配置ILA:用户需要定义ILA将要监测的信号,并且设置触发条件、缓冲大小、采样深度等参数。
3. 实现设计:将ILA核心加入到设计中,并进行综合、布局布线等实现步骤。
4. 下载比特流:将实现后的比特流下载到FPGA中。
5. 运行调试:通过Vivado的硬件服务器(HWH Server)和逻辑分析仪界面来启动ILA,设置触发条件,然后开始捕获数据。
6. 查看波形:捕获的数据可以在Vivado的波形查看器中被分析,从而帮助用户理解在特定事件发生时电路的行为。
ILA为FPGA设计者提供了一种强大的调试手段,尤其是在复杂的数字系统设计中,可以显著减少调试时间,提高开发效率。
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