你了解斜入射光反射差技术吗
时间: 2024-04-06 07:29:09 浏览: 108
宽带平面后向反射超颖表面,用于斜入射下的反向散射增强
斜入射光反射差技术(Off-Axis Reflectance Difference, ORD)是一种光学表征技术,用于研究分子的构象、构象变化和分子间相互作用。它通过测量样品在两个不同偏振方向下的反射光的差异来获得分子的空间结构信息。
在ORD测量中,样品通常是液态或固态。它们被放置在一个特殊的样品池中,样品池的表面是具有高反射率的金属。样品池会将光线引入样品,并测量样品反射光的偏振方向和强度。通过比较样品在两个不同偏振方向下的反射光的差异,科学家们可以确定样品分子的构象和分子间相互作用。
ORD技术在化学、材料科学、生物科学等领域得到了广泛应用。它可以用于研究蛋白质、核酸、药物、聚合物等分子的构象和相互作用,以及固态表面的结构和性质等方面。
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