做DFT时transition fault的test coverage如何提高
时间: 2024-05-29 10:08:33 浏览: 197
提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法
可以使用扫描链测试(Scan-chain Testing)来提高transition fault的test coverage。扫描链测试是一种测试结构,它可以通过在芯片中添加额外的电路来使测试更加容易。其中,扫描链会将芯片中的内部状态向外传输,以便在测试过程中检测到错误。通过使用扫描链测试,可以提高transition fault的test coverage,从而更好地保证电路的正确性。
阅读全文