做DFT时transition fault的test coverage如何提高
时间: 2024-05-29 12:08:33 浏览: 13
可以使用扫描链测试(Scan-chain Testing)来提高transition fault的test coverage。扫描链测试是一种测试结构,它可以通过在芯片中添加额外的电路来使测试更加容易。其中,扫描链会将芯片中的内部状态向外传输,以便在测试过程中检测到错误。通过使用扫描链测试,可以提高transition fault的test coverage,从而更好地保证电路的正确性。
相关问题
dft transition
DFT transition是指针对测试目的而进行的设计布局过程中的转换。在这个过程中,使用了at-speed ATPG方法,通过使用SDF时序信息来激活和传播故障。与传统故障ATPG相似,每个library IO位置都存在slow-to-fall和slow-to-rise故障。ATPG过程使用SDF,所以目标故障在具有最大可能延迟的路径之间进行launch和capture。这样的设计布局转换可以更有效地检测到小的延迟缺陷,并增加测试的覆盖率和准确性。 为了实现这种转换,可以使用DFT的部分连接到top-level TAP的网络,例如,连接到instruments上。其中一个用于转换的组件是SIB(Scan Input Bridge),它是一个扫描链开关,具有两个扫描输入引脚和一个扫描输出引脚。 此外,在DFT设计中还可以插入Pipeline stages,这些Pipeline stages位于EDT逻辑之外,它们可以增加信号的传播时间,以提高信号的稳定性和可靠性。<span class="em">1</span><span class="em">2</span><span class="em">3</span>
#### 引用[.reference_title]
- *1* *2* *3* [DFT设计中相关词汇](https://blog.csdn.net/weixin_44954910/article/details/131432846)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v92^chatsearchT3_1"}}] [.reference_item style="max-width: 100%"]
[ .reference_list ]
DFT中的chain test和scan test
DFT(Design for Testability)是一种为了方便测试而设计的电路设计技术。其中,chain test和scan test是DFT中的两种测试技术。
Chain test是一种基于串行链的测试技术。在这种测试技术中,测试数据被按照连续的方式串行输入到被测试电路中,然后输出测试结果。它通常用于测试小规模的电路,因为它需要大量的测试时间和较高的成本。
Scan test是一种基于扫描链的测试技术。在这种测试技术中,测试数据通过扫描链输入到被测试电路中,然后输出测试结果。它通常用于测试大规模的电路,因为它具有高效率和低成本的优势。
总的来说,chain test和scan test都是DFT中常用的测试技术,它们在不同的应用场景中具有不同的优势和适用性。