JTAG的成本太高,不考虑此方式进行SOC diag或者systemlevel test, 其他更好的方式是什么?
时间: 2024-04-05 16:32:00 浏览: 104
嵌入式系统/ARM技术中的嵌入式JTAG接口是导致设计出问题的罪魁祸首?
确实,JTAG调试器成本较高,对于一些小型项目或者个人开发者来说,可能不太实用。除了JTAG之外,还有其他一些方式可以进行SOC诊断和系统级测试,下面列举几种常用的方式供参考:
1. Serial Wire Debug(SWD):与JTAG类似,SWD是一种用于调试和测试嵌入式系统的接口标准,与JTAG相比,SWD只需要两根线(SWDIO和SWCLK),因此成本较低。SWD通常用于对ARM Cortex-M系列处理器进行调试和测试。
2. Boundary Scan:边界扫描(Boundary Scan)是一种内部测试技术,利用芯片内部的专用硬件电路来进行测试,可以检测到芯片内部的硬件连接和电气特性等问题。Boundary Scan可以用于测试芯片、PCB和模块,成本较低。
3. In-System Programming(ISP):在系统编程(ISP)是一种在目标系统上编程芯片的方式,通常需要使用一些专门的编程器。ISP可以用于对芯片进行编程和调试,比较灵活和方便。
4. Virtual Platform:虚拟平台是一种软件仿真环境,可以在PC上模拟目标芯片的软硬件环境,用于开发和调试嵌入式系统。虚拟平台可以减少硬件成本和开发时间,但需要进行一些模型开发和调试。
总之,除了JTAG之外,还有其他一些方式可以进行SOC诊断和系统级测试,开发人员需要根据自己的实际需求和成本考虑选择哪种方式。
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