存储器ic设计的测试 最新文献
时间: 2023-11-08 22:06:23 浏览: 87
以下是几篇关于存储器 IC 设计测试的较新的文献:
1. "A Survey of Memory Testing Techniques for Nanometer Scale Technology Nodes",IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems,2018年。该文献综述了纳米尺度技术节点下的存储器测试技术,并讨论了当前的挑战和未来的研究方向。
2. "Error Detection and Correction Techniques for Memories in Nanometer CMOS Technologies",IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems,2019年。该文献介绍了在纳米尺度 CMOS 技术下的存储器错误检测和纠正技术,并评估了它们的性能和可扩展性。
3. "A Built-In Self-Repair Scheme for SRAMs in High-Performance Processors",IEEE Transactions on Computers,2019年。该文献提出了一种适用于高性能处理器中 SRAM 存储器的自修复方案,并在实际芯片上验证了其有效性。
4. "Design-for-Testability Techniques for High-Performance Embedded Memories",IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems,2018年。该文献介绍了针对高性能嵌入式存储器的设计测试技术,并讨论了它们的可行性和优点。
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