基于海思35X开发板和ADC模块 ADC采样校准

ADC采样校准是保证ADC转换精度的重要步骤，基于海思35X开发板和ADC模块的ADC采样校准可以通过以下步骤实现：

1. 确定ADC参考电压和采样精度：海思35X开发板上的ADC模块一般采用内部参考电压，参考电压大小一般为1.5V或2.5V，采样精度一般为12位或10位。

2. 采集ADC采样数据：使用ADC模块采集一组ADC采样数据，将其存储到内存中。

3. 计算采样数据平均值：对采集到的ADC采样数据进行求和，然后除以采样个数，得到平均值。

4. 计算校准系数：校准系数是校准量与真实量之比，一般用于修正ADC采样误差。计算校准系数需要知道采样数据的平均值和真实值，根据以下公式计算校准系数：

校准系数 = 真实值 / 平均值

5. 应用校准系数：用校准系数乘以采集的ADC采样数据，得到校准后的ADC采样数据，即为真实值。

6. 重复以上步骤：根据需要，可以多次重复以上步骤，进一步提高ADC采样的精度。

需要注意的是，ADC采样校准过程中需要确保采样数据的稳定性，避免干扰和漂移等因素对采样结果的影响。同时，需要选择合适的校准方法和参数，以达到最佳的校准效果。

相关问题

基于海思35X开发板和ADC模块 怎么ADC采样校准

ADC采样校准是确保ADC精度和准确度的重要步骤，下面是一些基于海思35X开发板和ADC模块的ADC采样校准方法：

1.做基准电压源，如使用参考电压IC，或者使用已知精度的稳压器做基准电压源。

2.将基准电压源连接到ADC输入端口，记录下ADC输出数值。

3.计算ADC的实际输入电压，公式为实际输入电压 = ADC输出电压 / ADC量程 * 基准电压。

4.将实际输入电压与基准电压比较，计算出误差值。

5.根据误差值，进行ADC校准，例如调整ADC的增益和偏移量，或者使用软件算法进行误差补偿。

6.重复以上步骤，直到ADC输出精度和准确度达到要求。

需要注意的是，ADC采样校准需要在稳定的环境下进行，并且需要根据实际情况选择合适的校准方法。

基于海思35X开发板和ADC模块 怎么ADC采样校准 代码

ADC采样校准主要有两个步骤：一是确定参考电压，二是进行偏移校准和增益校准。

1. 确定参考电压

参考电压是ADC转换电压的基准值，需要准确地测量和确定。可以通过外部参考电压源来提供参考电压，也可以使用芯片内部提供的基准电压源。在使用芯片内部基准电压源时，需要通过校准来保证其准确性。

2. 进行偏移校准和增益校准

偏移校准是为了消除ADC输出的偏移误差，即零点误差。方法是在ADC输入端接通一个已知电压源，将ADC输出与已知电压进行比较，得到偏移量，通过修改ADC的校准寄存器来进行校准。

增益校准是为了消除ADC输出的增益误差，即变换系数误差。方法是在ADC输入端接通不同幅度的已知电压源，将ADC输出与已知电压进行比较，得到增益误差，通过修改ADC的校准寄存器来进行校准。

以下是基于海思35X开发板和ADC模块的ADC采样校准代码示例：

#include "hi_adc.h"

#define ADC_CHANNEL_NUM 1 //ADC通道数
#define REF_VOL 3300 //参考电压值（mV）
#define ADC_BITS 12 //ADC位数
#define MAX_VALUE ((1 << ADC_BITS) - 1) //ADC最大值

//偏移校准
void offset_calibration(uint32_t channel)
{
    uint32_t tmp_val = 0;
    uint32_t offset = 0;

    //使能ADC
    HI_ADC_Enable();

    //设置ADC采样通道
    HI_ADC_SetChannel(channel);

    //等待ADC就绪
    while (!HI_ADC_IsReady());

    //进行多次采样求平均值
    for (int i = 0; i < 16; i++)
    {
        tmp_val += HI_ADC_GetValue();
    }
    tmp_val >>= 4;

    //计算偏移量
    offset = (REF_VOL * tmp_val) / MAX_VALUE;

    //设置偏移校准值
    HI_ADC_SetOffset(channel, offset);

    //关闭ADC
    HI_ADC_Disable();
}

//增益校准
void gain_calibration(uint32_t channel)
{
    uint32_t tmp_val = 0;
    uint32_t gain = 0;

    //使能ADC
    HI_ADC_Enable();

    //设置ADC采样通道
    HI_ADC_SetChannel(channel);

    //等待ADC就绪
    while (!HI_ADC_IsReady());

    //进行多次采样求平均值
    for (int i = 0; i < 16; i++)
    {
        tmp_val += HI_ADC_GetValue();
    }
    tmp_val >>= 4;

    //计算增益误差
    gain = (REF_VOL << ADC_BITS) / tmp_val;

    //设置增益校准值
    HI_ADC_SetGain(channel, gain);

    //关闭ADC
    HI_ADC_Disable();
}

int main()
{
    //初始化ADC模块
    HI_ADC_Init();

    //进行偏移校准和增益校准
    for (int i = 0; i < ADC_CHANNEL_NUM; i++)
    {
        offset_calibration(i);
        gain_calibration(i);
    }

    return 0;
}

需要注意的是，以上代码仅供参考，实际应用中需要根据具体情况进行修改。