并行相移技术的研究背景

并行相移技术是一种非接触式三维形貌测量方法，可用于工业、制造、医疗等领域。在传统的相移法中，需要进行多次光栅投影和相移，时间和精度都有限制。而并行相移技术则通过同时使用多个相移光栅，将相移过程并行化，大大提高了测量速度和精度。

该技术的研究背景主要包括以下几个方面：

1、传统相移法的局限性：传统相移法需要进行多次光栅投影和相移，时间和精度都有限制，不适用于对复杂形状的物体进行快速高精度的三维形貌测量。

2、高速、高精度测量需求的提出：在工业、制造、医疗等领域，对于复杂形状的物体进行高速、高精度的三维形貌测量需求日益增加。

3、光学成像技术的发展：随着光学成像技术的发展，如CCD、CMOS等数字成像传感器的广泛应用，使得同时使用多个相移光栅成为可能。

基于以上背景，研究者们开始尝试使用并行相移技术进行三维形貌测量，并逐步取得了不错的成果。