LBIST/ABIST

LBIST是logic build in self test，是一种内建自测试技术，用于对芯片的逻辑进行扫描测试。与传统的ATE机台测试不同，LBIST的测试激励是由芯片内部电路自己产生，可以直接在板上进行测试，甚至在芯片部署到产品中以后也可以进行in-system的测试。LBIST的开发难度大、开发周期长，对芯片面积也有很大的开销，一般都是对可靠性要求比较高的芯片才会采用LBIST技术。相比之下，ABIST是一种模拟测试技术，用于对模拟电路进行测试。ABIST的测试激励是由外部测试设备产生，需要依赖于ATE机台进行测试。