如何使用CMU200和信号分析仪对GSM设备进行带内杂散测试，确保发射器在接收频段内的杂散辐射符合标准？

为了确保GSM设备在发射频段内带内杂散辐射符合标准，我们需要使用CMU200和信号分析仪来进行精确测量。以下是详细的测试流程和步骤：

参考资源链接：[GSM带内杂散测试详解：自动化工具与关键步骤](https://wenku.csdn.net/doc/3d6u6t2ynj?spm=1055.2569.3001.10343)

1. 首先，确保所有测试设备已经连接并预热完成，包括CMU200、信号分析仪、滤波器、衰减器和直流电源。
2. 使用CMU200设置测试频段，根据GSM标准选择适当的测试参数，例如频率范围和分辨率带宽。
3. 连接信号源和信号分析仪，调整滤波器至适当的频段，确保信号分析仪设置正确，以捕获所需的杂散信号。
4. 开始进行频率扫描，并使用信号分析仪测量发射器在接收频段内的杂散辐射水平。
5. 收集测量结果，并与GSM标准中规定的杂散辐射限值进行比较。
6. 如果测量结果显示超过限值，需对发射器进行必要的调整或优化，以减少发射频段内的杂散辐射。
7. 重复测试以验证调整后的设备是否满足杂散辐射标准。
8. 记录所有测试结果，以备后续的性能分析和质量控制。
进行这些步骤时，推荐参考《GSM带内杂散测试详解：自动化工具与关键步骤》，该文档不仅提供了详细的测试流程，还涵盖了使用自动化工具进行测试的关键步骤，帮助你更精确地控制测试环境和设备参数，从而获得可靠和一致的测试结果。

参考资源链接：[GSM带内杂散测试详解：自动化工具与关键步骤](https://wenku.csdn.net/doc/3d6u6t2ynj?spm=1055.2569.3001.10343)