DCC与JTAG协作的ARM硬件仿真调试器研究与高效实现

本文主要探讨了基于DCC (Data Control Channel) 和 JTAG (Joint Test Action Group) 的 ARM 硬件仿真调试器的研究与实现。ARM硬件仿真调试器对于嵌入式系统的开发至关重要，因为它允许开发者在无需实际目标硬件的情况下，对嵌入式软件进行高效调试和测试。 作者罗志刚，硕士研究生，专业为计算机软件与理论，师从成都理工大学洪志全教授，研究方向聚焦于提高嵌入式软件开发的效率。嵌入式系统随着硬件技术的进步和复杂应用的增长，对调试工具的需求日益增强，特别是对能够处理大规模和复杂软件、缩短开发周期的高效工具。 文章首先概述了嵌入式系统开发的现状和调试器的重要性，强调了调试工具在产品质量和上市时间中的关键作用。接着，详细介绍了JTAG技术，它是嵌入式系统中最常用的调试手段，因其能够在硬件层面提供灵活和精确的调试接口。 针对DCC，文章着重讲解了其在硬件仿真调试器中的应用，特别是在大量内存读写操作中，利用DCC通道可以显著提升数据传输速度，极大地提高了调试效率。此外，为了优化调试流程，文中还提到了批量数据存储指令在保护和恢复内核寄存器时的使用，这显著减少了停止和恢复运行所需的时间。 嵌入式ICE（EmbeddedICE）设计则是本文的核心部分，它是一个结合了DCC和JTAG技术的硬件仿真器。其设计和实现包括对调试器功能如下载、断点设置、单步执行、内存读写和寄存器操作的深入探讨，以及对具体实现过程的详尽描述。 本文不仅深入解析了基于DCC和JTAG的ARM硬件仿真调试器的理论基础，还提供了实际设计与实现的技术细节，为嵌入式系统开发者提供了一种高效的调试工具，有助于提升嵌入式软件开发的整体质量和效率。