共光路干涉法精确测量液晶空间光调制器的相位特性

本文主要探讨了一种创新的测量技术，即利用共光路干涉法来评估液晶空间光调制器（LCSLM）的相位调制特性。这项研究提出了一种基于液晶偏振分光原理的测量方法，它的工作流程如下： 首先，一个线性偏振的入射光束通过LCSLM，被分解成两个正交的线偏振光束。这两个光束沿着相同的路径传输，随后到达渥拉斯顿棱镜（WP）。WP的作用不仅使两束光产生横向剪切，而且还引入了光束之间的倾斜调制，当这两束光经过检偏器时，它们会产生载频干涉条纹。 干涉条纹的形成是关键环节，其中包含着LCSLM的相位信息。通过傅里叶变换分析，研究人员能够准确地计算出两帧干涉条纹之间的相对相移量，这是一种解析相位信息的有效手段。这种方法的一大优点是它的稳定性，对于振动和空气扰动具有很高的抗干扰能力，使得测量结果更为精确且科学。 具体来说，透射式LCSLM的相位调制特性是通过实验进行测量的，结果表明，这种共光路干涉测量法能够有效地揭示LCSLM的性能，这对于理解和优化LCSLM在光学系统中的应用至关重要，如在光通信、光显示以及光学数据处理等领域。 关键词包括：测量、液晶空间光调制器（LCSLM）、相位调制特性、共光路干涉仪和傅里叶变换法。根据文章的中图分类号O436，可以推断其研究内容与光学技术中的光控制和测量技术紧密相关。 总结来说，本文提供了一种新颖且实用的方法，为LCSLM的相位调制特性测量提供了一种有效途径，这将有助于提升光学设备的性能和精度，推动相关领域的技术发展。