VLSI测试方法与多输入特征分析器压缩详解

在VLSI（Very Large Scale Integration，大规模集成电路）领域，本文主要探讨了多输入特征分析器压缩在模式识别中的应用，特别是在测试方法学和可测性设计中的重要性。首先，文章介绍了单输入特征分析器（SSA）的概念，它通过n选1多路选择器将一个原始输出的响应进行压缩，这延长了测试长度，从而理论上降低了混淆概率。尽管每个测试响应的混淆概率依然保持不变，但多个原始输出可以共同检测到故障，从而整体上提高了系统的可靠性。 接下来，文中提到的Bellmac方法是一种更复杂的压缩策略，它结合了奇偶压缩和特征分析步骤。原始输出的响应经过奇偶树压缩后，再通过特征分析器进行二次压缩。以一个具体的例子说明了如何使用Bellmac方法对四个输出电路的测试响应进行压缩，通过计算奇偶序列并利用特征多项式来确定压缩后的特征符号。 VLSI测试方法学和可测性设计是一门关键学科，它涵盖了广泛的课题，如电路测试、分析的基础理论，数字电路的描述和模拟，以及针对特定应用如组合电路、时序电路的测试生成方法。此外，还包括专用可测性设计、扫描和边界扫描、IDDQ测试、随机和伪随机测试等，这些都是确保VLSI设计质量和效率的重要环节。 书中还讨论了数据压缩结构和压缩关系，例如与M序列相关的测试生成方法，以及内建自测试（Built-in Self-Test, BIST）原理。对于内存（Memory）和系统级芯片（System-on-Chip, SOC）等复杂电路的可测性设计，有专门的方法和技术。 《VLSI测试方法学和可测性设计》这本书不仅适合从事集成电路设计、制造、测试和应用的专业人员，也适用于高校学生和研究生的学习。它强调了在VLSI设计过程中，优化测试流程和提高可测性的重要性，为设计者们提供了一套完整的理论和实践框架。 本文所涉及的知识点集中在VLSI领域的测试优化策略，尤其是通过多输入特征分析器压缩来提升系统性能，这是现代集成电路设计中不可或缺的一部分，对于提高产品质量、降低成本和缩短上市时间具有重要意义。同时，该内容还揭示了VLSI测试方法学和可测性设计在当前电子信息类教材中的核心地位。