LPC111x/LPC11Cxx串行线调试指南：ARM Cortex-M0特性与限制

本篇文档是关于LPC111x/LPC11Cxx系列微控制器的串行线调试(SWD)功能的详细介绍，主要针对ARM Cortex-M0架构。章节22详细介绍了该系列芯片的调试特性，包括支持的调试模式（ARM串行线调试），其优点如能直接访问内存、寄存器和外设，无需额外的目标资源，并且内置了4个断点和2个数据观测点，可用于设置代码补丁和文字值补丁。此外，文档还特别指出，由于Cortex-M0处理器的集成限制，LPC111x/LPC11Cxx不支持从深度睡眠模式直接唤醒，因此在进行调试时应避免使用这一模式。 在调试接口部分，文档列出了串行调试引脚SWCLK和SWDIO的功能，SWCLK作为调试逻辑时钟，由外部调试工具驱动，而SWDIO则是双向接口，用于数据传输和控制。值得注意的是，用户必须了解调试过程中可能遇到的限制，特别是关于唤醒模式的限制。 文档还提到，这本手册是翻译版本，以供参考，但原始英文版具有优先法律效力。所有提供的信息受法律免责声明约束，版权归恩智浦公司所有。手册的修订历史也有所提及，包括2011年6月的第五版更新，涉及多个章节的改动，例如对进入深度掉电模式、UART配置、IOCON寄存器和Windowed WatchDog Timer等内容的更新。 这篇调试笔记提供了LPC111x/LPC11Cxx系列微控制器调试的基础知识，对于开发人员理解和使用这些设备进行故障诊断和性能优化具有重要价值。