半导体测试基础入门：DUT与测试程序详解

半导体测试基础是一个关键领域，它涉及到对半导体器件进行精确和有效评估的过程。该文档深入探讨了测试的基础概念和实践，包括以下几个核心要点： 1. DUT (Device Under Test): 被测器件(DUT)是测试的核心，它是需要检查其性能和功能的半导体元件，有时也被称作UUT(Units Under Test)。理解每个DUT的引脚类型至关重要，如信号脚（输入、输出、三态和双向）、电源脚（VCC、VDD、VSS和GND）。这些引脚负责数据传输、供电和接地，确保器件与测试系统正确交互。 2. 测试程序: 半导体测试程序的设计目标是确保器件符合其规格书中的性能指标。程序通常包括直流测试（DC，检查电压和电流特性）、功能测试（验证逻辑功能是否正确）和交流测试（AC，关注时序性能）。通过这些测试，器件被分类到不同的性能等级，如Binning或分Bin，以决定其在不同应用中的适用性。 3. 测试流程: 测试程序控制硬件设备，对每个测试项目输出pass或fail的结果。通过这种方式，制造商可以筛选出高质量的器件用于高端市场（如“Bin1”），而性能稍逊的器件可能适合特定的应用范围（如“Bin2”）。 4. 术语和电路结构: 文档介绍了专业术语，如TTL和CMOS器件的供电引脚名称，以及地（GND）的概念，地是测试系统中的基准电位，对于单电源器件，VSS和GND通常互换使用。 半导体测试基础涵盖了测试设备、测试方法、程序设计和性能评估等多个层面。理解和掌握这些基础知识对于半导体工程师来说是至关重要的，它关系到产品的质量和可靠性，以及最终用户对电子产品的性能期望。