详解ARM JTAG调试原理，IEEE 1149.1标准解读，实用不容错过

ARM-JTAG调试原理是一项重要的技术，本文将对其详细进行解释。文章以IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture为基础，详细介绍了ARM JTAG调试的基本原理。通过对TAP (TEST ACCESS PORT)和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍，结合ARM7TDMI详细介绍了JTAG调试原理。作者希望通过分享自己的心得体会来帮助对ARM JTAG调试感兴趣的网友们，并欢迎交流学习。同时，作者也承认个人对ARM JTAG调试原理理解还不够透彻，希望能够得到精通JTAG调试原理的大侠们的指正和帮助。 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture作为JTAG调试标准被介绍。JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的缩写，而IEEE 1149.1标准则是对JTAG调试进行规范的重要文件。这标准是为了解决在PCB布线后的测试问题而设计的，通过在芯片内部引入一条串行测试总线，将芯片内的引脚以一种简单的方式连接到一个测试总线上，从而实现了对芯片内部的测试。这种设计让芯片在制造完成后，即可进行全面的自动化测试。该标准包括了TAP和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的具体细则。 在ARM JTAG调试原理的讲解中，TAP (TEST ACCESS PORT)是一个非常重要的概念。它是一个标准接口，使得支持JTAG的芯片可以被通过软件和硬件工具进行访问。通过TAP，我们可以进入BOUNDARY-SCAN架构，在测试过程中可以通过扫描链对芯片进行测试。BOUNDARY-SCAN架构是一种特殊的设计，它让我们能够通过JTAG总线对芯片的引脚进行控制和观测，这样就可以实现在芯片封装内部测试。 在ARM7TDMI的介绍中，通过具体的例子向读者展示了JTAG调试原理的应用。ARM7TDMI是ARM公司2000年发布的一款嵌入式处理器，它在当时是非常先进的产品。通过对ARM7TDMI的JTAG调试原理的详细介绍，读者可以更好地理解JTAG调试原理的具体应用。 总之，本文内容详实，并且系统地介绍了ARM JTAG调试原理。通过对IEEE标准和ARM7TDMI的介绍，读者可以更好地理解JTAG调试的基本原理。作者真诚地希望自己的分享能够帮助到对ARM JTAG调试感兴趣的人，并欢迎大家一起交流学习。