应用导向的可测试电路设计指南V1.1

"Design for Test Standards (LECTURE NOTES) - J.M. Martins Ferreira - January 2000 (V1.1)" “Design for Test”（DfT）是电子工程领域的一个关键概念，主要关注如何在设计阶段就考虑电路的测试性，以便在后期的生产和维护过程中能够更有效地进行故障检测和修复。这份V1.1版本的Design for Test Standards文本由FEUP（葡萄牙波尔图大学工程学院）负责，旨在引导一种面向应用的可测试电路设计方法。文档强调了其在实验室环境中的应用，而非传统的课堂教学。 该资料包由J.M. Martins Ferreira编著，他来自波尔图大学工程学院的计算机与电气工程部门。文档的版权允许在Leonardo INSIGHT II联盟内部自由使用，但在联盟之外的使用需得到作者的明确授权。 前言部分提到，V1.1版的Design for Test Standards是FEUP交付的一部分，它的目标是提供一个以实践为导向的教程，使学习者能深入理解可测试电路设计中的问题及其解决方案。这种设计方法鼓励在实际操作环境中，如实验室，进行学习，以增强对测试挑战和可能解决策略的理解。 为了配合实践环节，文档指出需要两种额外的资源：一种是硬件补充，即演示板。这个演示板能够将理论概念转化为实际操作，让学习者直观地看到在测试过程中可能出现的问题以及相应的解决方案。通过这样的动手实践，工程师可以更好地理解和掌握如何设计出易于测试的电路。 Design for Test技术包括但不限于边界扫描、内置自测试(BIST)、多电压测试、压缩测试等。这些技术旨在减少测试成本，提高测试覆盖率，同时缩短产品上市时间。例如，边界扫描允许通过芯片输入/输出接口来测试内部连接，而BIST则可以在不依赖外部测试设备的情况下，让电路自我评估其功能。 这份Design for Test Standards文档为电子工程师提供了一个实用的教学框架，帮助他们学习和实施电路的可测试性设计，以提高产品的质量和可靠性，降低维护成本，并在实验室环境中培养出实际操作技能。通过硬件演示板的辅助，学习过程更加直观，有助于加深对测试策略和挑战的理解。