基于边界扫描的簇测试系统设计：快速故障检测技术

本文主要探讨了"基于边界扫描的簇测试系统设计"这一主题，发表于2008年2月装甲兵工程学院学报第22卷第1期。作者陈圣俭、陈健和徐磊以边界扫描测试总线控制器芯片为核心，针对当时数字电路特别是大规模集成电路的测试需求，设计了一种簇测试系统。这种系统利用了先进的边界扫描技术，旨在处理包含边界扫描器件与非边界扫描器件的混合电路板，即非完全边界扫描PCB，这在当时的电子工业中具有重要意义。 边界扫描技术作为一种重要的测试手段，允许直接访问电路的输入和输出端口，从而对电路内部的逻辑功能进行检查，特别适用于那些难以直接访问的复杂电路。论文中提到的GNS算法，可能是W-A算法的一种变体，用于簇测试的实例验证。GNS算法可能是一种高效的故障检测算法，它能够在测试过程中快速准确地识别出被测系统中的固定逻辑故障和短路故障。 固定逻辑故障通常指由于设计错误或制造缺陷导致的电路功能不正常，而短路故障则涉及电源或信号线路的意外连接，可能导致电路过载或失效。通过集成W-A的GNS算法，设计的测试系统不仅提升了测试的覆盖率，还提高了故障定位的精度和效率。 文章的关键技术在于结合边界扫描技术和簇测试策略，有效地应对了混合电路板的测试挑战。这样的系统设计对于提高集成电路产品的质量和可靠性，以及缩短产品上市时间都具有积极的影响。此外，文章还可能对测试系统的硬件架构、软件实现以及实际应用案例进行了详尽的阐述，为同类领域的研究者提供了宝贵的参考和实践经验。 这篇论文在工程技术领域，特别是在边界扫描测试和簇测试技术的研究和发展上做出了贡献，为电子设计自动化（EDA）和故障诊断技术的进步奠定了基础。