光纤面板暗影缺陷自动检测系统：研发与应用

本文档探讨了"光纤面板暗影缺陷自动检测系统的研制与开发"，发表于2012年4月的《光学仪器》杂志。随着光纤面板在电子光学成像器件中的广泛应用，对于其质量控制的需求日益增长。作者王明吉、付冬华和吴云针对国家标准中关于暗影缺陷检验的规定，研发了一套高效的自动检测系统。 系统的核心技术包括改进的Canny算子，这是一种边缘检测算法的升级版，它能够精确地识别并优化光纤面板上的暗影边缘，这对于检测暗影缺陷至关重要。Canny算子的改进使得边缘检测更为准确，提高了系统在实际应用中的性能。 整个系统实现了软硬件的有机结合，通过整体控制，实现了暗影缺陷的自动化检测流程，大大节省了人力和时间，提升了检测效率。同时，论文还提出了一系列计算方法，用于分析暗影缺陷的特征、参数和指标，实现了缺陷的定量评估，这对于提升产品质量控制的精度具有重要意义。 实验结果表明，该系统操作简便易用，数据处理速度快且准确性高，性能稳定可靠，显示出显著的实际应用价值。关键词包括光纤面板、暗影缺陷和检测系统，研究内容符合TN247类别，被归类为一级文献，获得了DOI标识，证明其在学术界的权威性和影响力。 这篇论文不仅介绍了暗影缺陷自动检测系统的具体设计和实现过程，还展示了其在提高光纤面板质量控制方面的潜力，对于相关行业的工程师和技术人员具有很高的参考价值。