NIDays2011：快速构建混合信号测试系统资源包详解

NIDays2011电子产品测试应用资源包提供了全面的指南，帮助用户快速构建混合信号测试系统，该系统主要基于国家仪器（NI）的PXI技术平台。会议由NI中国区域销售经理张晶主讲，内容涵盖了混合信号测试的基本概念、设计与测试中的挑战，以及如何利用NIPXI模块化仪器来解决这些问题。 混合信号测试是一种复杂的技术，它涉及在单个芯片或PCB模块上集成模拟和数字电路，用于实现完整的功能或子系统。例如，常见的混合信号组件包括DAC/ADC、PLL、数字音频/视频芯片和Transceiver ASIC/PCB。这些电路的设计要求工程师具备较高的系统集成经验，因为模拟电路与数字电路的设计方法在成熟度上存在差异。此外，集成电路的制造工艺，如COMS和双极型晶体管，分别针对数字和模拟电路优化，而新型的半导体技术如BiCMOS和SiGe则带来了新的挑战。 在测试方面，混合信号电路的测试涉及到处理各种类型的信号，包括数字和模拟（包括直流、音频、中频和射频），这就需要定制化的测试系统开发，可能导致设备成本高和难以重复利用的问题。NIPXI解决方案提供了一种解决方案，它集成了从直流到射频的测量模块，支持多种总线接口（如Serial、CAN、FlexRay、ARINC-429、MIL-STD-1553）和数字I/O，还有机器视觉和运动控制功能。这使得测试系统能够实现高速数据传输和精确的定时与同步。 PXI/PXIExpress总线是NIPXI架构的核心，它提供了高带宽的数据传输和低延迟，有助于简化系统设计。NI产品在不同时期的发展展示了其在混合信号测试领域的不断进步，从早期的28位分辨率到后来的16位，表明了技术的不断提升。 会议议程还包括混合信号测试的概念介绍、基于PXI的混合信号测试平台演示，以及实际应用案例分析。软件方面，NI提供的工具与算法与硬件紧密结合，大大加快了应用开发的速度。NIDays2011资源包不仅提供了技术指导，还为电子产品的混合信号测试提供了一个实用的解决方案。